FU-场均匀性国际标准.docVIP

场均匀性测试(FU) （翻译至： IEC 61000-4-3） 6.2场地校准 场地校准的目的是确保在被测样品上产生的场的均匀性，以便能保证测试结果的有效性。为了保证场强探头的读数准确，在场地校准时，发射信号不进行任何调制。 IEC 61000-4-3 定义了“均匀面”的概念，该面是一个被认为场的变化足够小的假想的垂直面。除非EUT及其线束内在一个较小的区域内被充分的照射，通常的均匀面的尺寸为1.5m×1.5m。均匀面的最小尺寸不能小于0.5m×0.5m（仅一个4点的窗口）。 在测试布置中，应把EUT被照射的面和该均匀面重合起来。（如图） 立式设备的测试 台式设备的测试 由于在参考地平面附近不可能建立一个均匀场，所以，被校面的高度不能低于0.8米。如果有可能，以后测试时，EUT也尽可能处于这个高度。 有一些EUT及其线束在测试时必须要靠近参考地平面或者超出1.5m×1.5m的范围，那测试高度也可定在0.4m，但关于EUT的所有的尺寸数据应当包含的报告中加以说明。 均匀面的校准要在一个空暗室中进行，其中仅保留测试相关的东西（天线，探头，额外的吸波材料等等）。均匀面校准应当每年进行一次或是在暗室内配置改变时（吸波材料的更换、移动，设备改变等）立刻进行。 发射天线应放置在一个合适的距离上，以便发射场的主瓣带宽能够覆盖1.5m×1.5m的校准面。如果均匀面想要覆盖一个尺寸大于1.5m×1.5m的EUT受测面，那么，容纳EUT受测面的均匀面要进行一系列的照射和测试（部分照射法）。即： 发射天线处于不同的位置，进行均匀面的校准，这样，拼合起来的校准面能够容纳EUT受测面。 或者，将EUT放在不同的位置，这样，其上的每个部分都能被校准面覆盖。 如果一个容纳大于1.5m×1.5mEUT受测面的校准面满足场均匀性测试的要求，则可以不进行部分照射法。 场强探头同发射天线的距离至少为1米。最好是3米，这是天线和EUT之间的距离。这个距离是以双锥天线的中心或周期天线的标记处为准量得的。这些要在报告中给予说明。 在出现争议时，3米法校准为优先考虑的。 若校准面中的大部分点（75％以上）的归一化值在（－0～＋6dB）内时，该面上的场被认为是均匀。如果校准面尺寸为0.5m×0.5m，则全部点都应满足要求。 允许有3％的频率的归一值落入＋6dB～＋10dB的容限范围内，但不能低于－0dB，但要在报告中注明。若存在争议时，－0～＋6dB范围优先。 通常，对全电波暗室或半电波暗室的场校准的布置如下图： 场校准一般在水平和垂直极化方式下用给定的频率步进的无调制载波进行测试。场校准时所用的场强至少为测试时用在EUT上的场强的1.8倍，且要保证放大器工作于线性区。将这个校准场强记做Ec。这个值仅用于场的校准，测试用场强则不能超过Ec/1.8。 以下介绍了两种不同的场校准方法。如果使用正确，这两种方法能给出相同的场均匀性结果。 如果EUT所有的面（包含一些线束）都能包含在“测试域”中，则认为场校准是有效的。 用于场地校准的天线和电缆可用于以后的对EUT的测试。也正因为使用了相同的天线和电缆，电缆的损耗和发射天线的天线系数在测试中可以不必考虑。 校准时，应记录好天线，电缆及相关设备的位置，因为场地中极小的改动都会对场造成很大的影响，在以后的测试中要使用和校准时相同的位置。 6.2.1 恒定场强校准法 通过调整前向功率，建立一个场强恒定的均匀场，用一个经校准的场强探头已指定的步长在每个频段内进行测量，一个位置接一个位置的测，一共16个位置。 16个位置的前向功率的测量以dBm为单位。 以下为校准步骤： 将场探头置于16个测试位置中的一个，并将信号发生器的频率设为校准要求中的最低频率（比如：80MHz）。 调整馈入发射天线的前向功率（即调整功放的增益），使场强达到校准要求的Ec。记录此时的前向功率值。 以最大为前频率的1％为步进，增加频率。 重复2、3步，直到该频段的最大频率点。（使每个频点的场强都一样） 在每个测试位置重复1～4步，直到测完16个位置。 测完之后，在每个频点： 将16个前向功率值作升序排列。 从最大值开始，检查是否至少有11个低于该值的数和该最大值的差在容限－6dB～+0dB内。 若不在上述容限内，照上述步骤重测该频点，注意到，每个频点有5个可重测的位置（5个重测完后，仍不达标，校准失败） 不含最大值，如果至少12个值在6dB容限内，则校准完成 6.2.2 恒定功率校准法 通过调整前向功率，建立一个场强恒定的均匀场，用一个经校准的场强探头已指定的步长在每个频段内进行测量，一个位置接一个位置的测，一共16个位置。 在16个位置应用相同的前向功率，由此在每一个位置记录产生的场强。 以下