单相交流调压电路实验.docxVIP

实验一单相交流调压电路实验 实验目的： 加深理解单相交流调压电路的工作原理； 加深理解单相交流调压电路带电感性负载对脉冲及移相范围的要求。 实验内容： 单相调压电路带电阻性负载实验； 单相交流调压电路带电阻电感性负载实验。 实验过程： 1、电阻性负载实验：按图1?1接好线路（蓝色为电源电压波形，黄色为负载电压波形，红 色为负载电流波形） 图1-1TY 图1-1 TY —AY 晶闸管脉冲触发角度： 绘制波形： 结论: 2、带电阻电感性负载实验：按图1?2接好线路 IT1MT IT 1MT 分别取脉冲触发旳人于，等于和小于功率因数角（1）三种情况。 当选R1和L时，* =48° 当选R2和L时，4=20° 当选R3和L时，4=18° 绘制波形: 结论: 实验二 功率场效应晶体管(MOSFET)特性与驱动电路研究 —?实验H的： 熟悉MOSFET主要参数的测量方法； 掌握MOSFET对驱动电路的要求； 学握一个实用驱动电路的工作原理与调试方法。 二.实验内容： MOSFET静态特性及主要参数测试： MOSFET主要参数测量： Vos恒定 Vgs Id 开启阀值电压Vgs ：ih)- 跨导gm= 绘制转移特性曲线 (2)输出特性测量: Vgs=3.5V VdS Id Vgs=3.8V VdS Id VGS=4V Vds Id 导通电阻ROn= 绘制输出特征曲线 （3反向特征曲线测量。 VgS恒定 VsD Id 绘制反向输出特征曲线: 驱动电路研究： ⑴快速光耦输入、输出延时时间测试; 波形记录： 延迟时间 ⑵ 驱动电路的输入、输出延时时间的测试; 波形记录： 延迟时间 动态特性测试： （1）电阻负载MOSFET开关特性测试; 波形记录： 电阻、电感负载MOSFET开关特性测试; 波形记录： 开关时间: RCD缓冲电路对MOSFET开关特性的影响测试; 波形记录： 开关时间: 栅极反压电路对MOSFET开关特性的影响测试; 波形记录： 开关时间: 不同栅极电阻对MOSFET开关特性的影响测试。 波形记录： 实验三 绝缘栅双极型晶体管（IGBT）特性与驱动电路研究 实验目的： 熟悉IGBT主要参数的测量方法； 掌握混合集成驱动电路EXB840的工作原理与调试方法。 实验内容： 1. MOSFET静态特性及主要参数测量： （1） 开启阀值电压匚曲测量； （2） 跨导gm测量； Vg恒定 VGe Id 开启阀值电压Vge（山= 跨导gm= （3） 导通电阻R“的测量。 驱动电路EXB840主要性能测试： （1） EXB840输入、输出延时时间测试; 波形记录： 延迟时间: （2） EXB840保护输岀部分光耦延时时间测试; 波形记录： 延迟时间: （3） EXB840过流慢速关断时间测试; 波形记录： 关断时间: （4） EXB840关断时的负栅压测试。 波形记录： 动态特性测试： （1） 电阻负载IGBT开关特性测试; 波形记录： 开关时间: （2） 电阻、电感负载IGBT开关特性测试; 波形记录： 开关时间: （3） 缓冲电路对IGBT开关特性的影响测试; 波形记录：