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IC测试基本原理 PAGE PAGE 1 ———————————————————————————————— 作者： ———————————————————————————————— 日期： 个人收集整理，勿做商业用途 个人收集整理，勿做商业用途 个人收集整理，勿做商业用途 本系列一共四章，下面是第一部分，主要讨论 \o 芯片 芯片开发和生产过程中的 \o IC IC测试基本原理，?内容覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及 \o IC IC测试中的常用术语。? 第一章?数字 \o 集成电路 集成电路测试的基本原理? 器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的 \o 环境 环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。用来完成这一功能的自动测试设备是由计算机控制的。因此，测试工程师必须对计算机科学编程和操作系统有详细的认识。测试工程师必须清楚了解测试设备与器件之间的接口，懂得怎样模拟器件将来的电操作 \o 环境 环境，这样器件被测试的条件类似于将来应用的 \o 环境 环境。? 首先有一点必须明确的是，测试成本是一个很重要的因素，关键目的之一就是帮助降低器件的生产成本