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XXXXXXX有限公司
文件编号
QC/LY-3-82-20-09
版次
A
品保部工作文件
修改状态
0
漆膜测厚仪校验规程
页数
第1页共1页
1 校验条件
1.1温度20±5℃，相对湿度50%-80%。
1.2标准箔片47.8μm±1%、98.6μm±1%、257.2μm±1%、489μm±1%、1002μm±1%厚。
2校验过程
2.1取以上各种厚度的校准箔片在未涂层的基体上，各测量5次，计算出测量平均值。
2.2显示值与标准箔片厚度值不符，用“Δ”和“▽”键改变显示值直到显示值与标准箔片厚度一致。
2.3按CAL键，校正结束。
4 判定示值误差，在±1%范围内为合格。
5对校验过程进行记录并将记录填写在《监视和测量设备校验记录》上。
6对校验合格的漆膜测量仪贴合格证标签，不合格的则进行修理、调试，完后重新校验。
7校验周期为一年。
涉及表单：监视和测量设备校准记录。
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