材料表征XRFSEMTEM比表面积.pptVIP

材料的表征 结构测定 形貌观察 比表面积 材料的化学成分分析 传统化学分析技术 现代化学分析技术(等离子发射光谱、质谱、紫外、可见光、红外光谱分析、拉曼光谱、气/液相色谱、核磁共振、电子自旋共振、X射线荧光、俄歇与X射线光电子能谱、二次离子质谱、电子探针、原子探针、激光探针等) 材料表征的基本方法 材料的成分是其组成原子种类和数量。 材料的结构可按尺寸分为不同层次；最基本的是原子-电子层次(0.1-1nm为尺度，原子团簇)，其次是以大量原子、电子运动为基础的微观结构(纳米、亚微米、微米)。 材料中组织的尺度与检测仪器分辨率对比图 图 电子与试样作用产生的信息 特征X射线 入射电子与试样作用，被入射电子激发的电子空位由高能级的电子填充时，其能量以辐射形式放出，产生X射线（连续X射线与特征X射线）。 各元素都具有自己的特征X射线，因此可用来进行微区成分分析。 二次电子 入射电子照射到试样以后，使表面物质发生电离，被激发的电子离开试样表面而形成二次电子。 二次电子的能量较低。在电场的作用下可呈曲线运动翻越障碍进入检测器，因而能使试样表面凹凸的各个部分都能清晰成像。 二次电子的强度与试样表面的几何形状、物理和化学性质有关。 背散射电子 入射电子与试样作用，产生弹性或非弹性散射后离开试样表面的电子称为背散射电子。 通常背散射电子的能量较高，基本上不受电场的作用而呈直线运动进入