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第一章 X射衍射分析 第一节 原理和数据处理 第二节 X射线强度和系统消光规律 第三节 多晶结构分析——衍射指数标定 第四节 XRD专题测试 强度的表示 １．绝对强度－－是以单位时间内单位面积通过的能量来表示的（通常不用） ２．积分（累积）强度－－某一种面网“反射”Ｘ射线的总数目－－用于定量分析、结构分析。（每个衍射峰下的积分面积该衍射束在单位时间内投射到探测器上的总能量。） ３．相对强度－－指同一衍射图象中各衍射线强度的比值－－用于定性分析 一、强度及影响因素 1. 积分强度(累积强度) 一、强度及影响因素 积分衍射强度计算公式 在晶体中由于对称性的存在，同一晶面族{hkl}中的各组面网间距相等，其衍射线重合。 由洛伦兹因子1/４(sin2θcosθ）和 偏振因子（１＋cos22θ)/2组成 表征强度直接与衍射角有关 德拜 法中，角因子与布拉格角θ的关系 （５）结构因子 Fhkl 　　　晶胞对X射线的散射是晶胞中各个原子的散射波叠加的结果，因此必须考虑各个原子散射波的振幅和位相两方面的因素。 ２．结构消光 实际上，除了格子类型外，滑移面、螺旋轴等，也都具有一定的消光规律。 对那些由两类以上等同点构成的复杂晶体结构，除遵循它们所属的布拉菲点阵消光外，还有附加的消光条件，称为结构消光。 金刚石结构 金刚石型结构属于面心立方布拉菲点阵。晶胞中有八个原子，由A、B两套相距1/4个立方体对角线的面心立方点阵构成. 当h、k、l中有奇有偶时，则因Ff=0而F=0，衍射消失 PDF卡 假定C方向有一根通过原点的一个二次螺旋轴,沿轴滑移才能对称(转180°平移1/2C) 在C方向上有二次螺旋轴2，00L型衍射中L为奇数时衍射线消失,表明其有[001]螺旋轴 若是h00型,h=奇数时消光,表明其有[100]螺旋轴 若是0k0型,k=奇数时消光,表明其有[010]螺旋轴 0kl型 h0l 型 hk0 型 滑移面: (100) (010) (001) 系统消光分析应注意: 按顺序进行—— 例MgO Mg： 000， ? ? 0， ? 0 ?， 0 ? ? ， O： ? ? ? ， 0 0 ? ， 0 ? 0 ， ? 0 0， Mg： 0 0 0 O： ? ? ? Ｆhkl＝［fMg+f0eiπ(h+k＋l)]Ff Ff=[1+eiπ(h+k)+ eiπ(k+l) +eiπ(h+l)] hkl为异性数时Ｆ＝０无衍射 hkl全奇，Ｆ＝４［fMg-f0]　　强度低 hkl全偶，Ｆ＝４［fMg＋f0]　　强度高 * * 研究生教学 第二节 X射线强度和系统消光规律 峰值强度：图中衍射峰峰顶处的强度I最大。 半高宽：图中衍射峰峰顶高度一半处的衍射线的角宽度B，它可定性表述衍射峰的强度。 第二节 X射线强度和系统消光规律 前面三项为物理常数和仪器常数， 后六项为与试样的晶体结构和实验条件有关的因子 结构因子 多重性因子 角度因子 温度因子 吸收因子 ２影响因素——（１）粉末法的重复性因子P （２）角因子φ(θ) (3)吸收因子Ａ(θ) 晶体的X射线吸收因子取决于所含元素种类和X射线波长，以及晶体的尺寸和形状。 (4)温度因子e-2M 晶体的中原子的热振动，衍射强度受温度影响，Ｍ为与原子偏离其平衡位置的均方位移有关的常数，由于原子本身在不停地振动，温度越高，振幅越大，原子热振动，引起原子散射因数减小，强度降低。 常温下温度因子可忽略。 设fj是晶胞中第j个原子的原子散射振幅，φj是该原子与位于晶胞原点位置上原子散射波的位相差，则该原子在某方向上的散射振幅为 若晶胞中有n个原子，则晶胞内所有原子相干散射波的合成波振幅Ab为： 定义：是指一个晶胞中所有原子沿某衍射方向(hkl)所散射的X射线的合成波。此合成波的振幅为|Fhkl|，称为结构振幅。 1） 结构因子 Fhkl 由于hkl晶面上的原子（坐标为xyz）与原点处原子经hkl晶面反射后的位相差φ，可以由反射面的晶面指数和原子坐标来表示： 因此，对于hkl晶面的结构因子为： 晶胞对某hkl衍射强度的决定因素 （1）各原子的散射振幅fj，（2）原子的坐标，（3）衍射面的指数。 复指数表达方式 三角表达方式 二.系统消光规律 由于FH K L=0而使衍射线消失的现象称为系统消光。系统消光包括点阵消光和结构消光。 产生衍射的充分条件应该是同时满足布拉格方程和FH K L≠0。 在复杂阵胞中，由于面心或体心上有附加阵点（阵胞中的阵点数大于1）或者每个阵点代表两类以上等同点的复杂结构，会使某些(HKL)反射的FH K L=0。虽然这些方向仍然满足衍射条件，但由于衍射强度等