第6章X射线衍射方法1幻灯片.ppt

经过以上分析，立方晶系的衍射线指标化可以按以下步骤进行： ① 根据实测值求出sin2θ； ② 计算sin2θi/ sin2θ1值，若不是整数，则乘以2或3，个别情况下乘以4，最后都化为整数； ③ 根据各个N值得到相应的衍射指数，完成指标化。 * 例1：CdTe的结构分析 测得试样密度为5.8289g/cm3，在金相显微镜上观察为均匀一致的单相，化学分析，其质量分数为Cd46.6%，Te53.4%。X射线衍射图谱。 * 第一步：根据衍射图谱的2θ，计算sin2θ及Ni/N1（见表）; 第二步： Ni/N1化整数，×3; 第三步：根据（Ni/N1 ）×3一列整数比，可判断该CdTe为面心立方结构，指标化见表中hkl，200，222，420未出现; 第四步：根据布拉格方程，求出a=6.46?； 第五步：根据ρ及CdTe的摩尔质量，计算单位晶胞中的分子数n=(V×ρ×N)/M ≈4； * 第六步：面心立方格子，单位晶胞中有4个分子，结构只有两种：NaCl型和金刚石型，根据未出现的200,222,420晶面衍射，可确定为金刚石型(在NaCl结构中，这类晶面为强衍射线）。 则在CdTe结构中： Te(000, ? ? 0, ? 0 ?, 0 ? ?） Cd(? ? ?, ? ? ?, ? ? ?, ? ? ?) * 序号 2θ（?） sin2θ Ni/N1 （Ni/N1）×3 hkl 相对强度I/% 1 23.75 0.0423 1 3 111 100 2 39.31 0.1131 2.67 8 220 60 3 46.43 0.1554 3.67 11 311 30 4 56.82 0.2264 5.35 16 400 6 5 62.35 0.268 6.33 19 331 10 6 71.21 0.3389 8.01 24 422 10 7 76.30 0.3816 9.02 27 333, 511 4 8 84.47 0.4518 10.68 32 440 2 9 89.41 0.4949 11.70 35 531 4 CdTe的衍射数据及指标化 * * 例2：将Cs2TeBr6物质进行X射线衍射，得到其粉末衍射图谱。其2θ见表，对其进行指标化。 序号 2θ sin2θ Ni/N1 (Ni/N1)×3 hkl I(观察值） 1 14?2′ 0.0149 1 3 111 弱（W) 2 16?14′ 0.0199 1.33 4 200 极弱(VVW) 3 23?2′ 0.0399 2.67 8 220 中（M） 4 27?4′ 0.0547 3.67 11 311 弱（W） 5 28?16′ 0.0597 4.00 12 222 强（S） 6 32?50′ 0.0799 5.36 16 400 次强（S－） 7 35?50′ 0.0947 6.36 19 331 很弱(VW) 8 40?30′ 0.1197 8.03 24 422 弱偏中(W+) 9 43?4′ 0.1347 9.04 27 331,511 次弱（W－） 10 47?8′ 0.1598 10.72 32 440 次强（S－） 首先，晶系识别，由表中数据可见，sin2θ有公因子A（0.005），则必为立方晶系； 其次，晶格判断，据hkl可知，该晶体的全奇全偶的晶面有衍射，奇偶混杂时消光，因此可判断该晶体为立方面心格子。 * * 立方晶系的结构比较简单，一般根据粉末衍射的数据，人工就可以对其进行指标化；而其它如单斜、三斜等晶系，结构复杂，计算工作量大，人工列表无法完成，应采用计算机程序完成指标化。Jade软件附带该功能。 * 作业 5 使用CuKα射线（波长＝1.5418?)，对立方晶系的某物质粉末进行X射线衍射，得到的衍射峰的位置分别是： 2?＝27.45, 31.80, 45.60, 54.05, 56.70, 66.50, 73.30, 75.60, 84.30 试将上述衍射峰进行指标化，并判定其空间格子类型。 作业 * * * （1）X射线发生器： 由X射线管、高压发生器、管压管流稳定电路和各种保护电路等部分组成。 * （2）测角仪：检测2θ （3）单色器：以确保入射X射线和衍射线为单色，以减小背底的影响。 （4）强度测量系统：把X射线的强度信号转化成物理的数字信号。常用于X射线检测的检测器有： Geiger - Muller检测器（GC）、正比检测器（PC）和NaI闪烁检测器（SC）。  * * （5）衍射仪自动控制与衍射数据采集、处理系统： 控制：扫描速度，扫描范围 角度校正，测角仪转动等。