光电检测实验讲义(新)王孟禄张忠锁(1).doc

PAGE 6 - 光电检测技术实验讲义 王孟禄 张忠锁 河南大学物理与电子学院测控工程系 2012年1月 目 录 实验一 光敏电阻特性测试及分析 3 实验二 光敏二极管、光敏三极管特性测试 7 实验三 红外光电报警系统设计 10 实验四 光纤温度传感器实验 15 实验五 光纤压力传感器实验 18 实验六 红外遥控系统设计 21 实验七 光纤位移实验 25 实验八 热释电传感器实验 28 实验九 光电技术创新实验(选作) （见资料） 实验一 光敏电阻特性测试及分析 一、实验目的 1、了解光敏电阻的基本特性和基本应用； 2、掌握光敏电阻的工作原理及特性测试的方法。 二、实验内容 1、光敏电阻的暗电阻、亮电阻、光电阻； 2、光敏电阻的暗电流、亮电流、光电流； 3、光敏电阻的光谱特性； 4、伏安特性； 5、光电特性； 6、温度特性。 三、实验原理 在光照作用下，能使物体的的电导率改变的现象称为光电导效应。光敏电阻是利用半导体的光电导效应制成，其电阻值随入射光的强弱而改变。 半导体的导电能力取决于半导体导带内载流子数目的多少。当光敏电阻受到光照时，价带中的电子吸收光子能量后跃迁到导带，成为自由电子，同时产生空穴，半导体中的载流子数目增加，电导率增加使电阻率变小。光照愈强，光生电子—空穴对就越多，阻值就愈低。入射光消失，电子