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* 2.4 光发送机和光接收机 2.4.1 光发送机 2.4.2 光接收机 * 图2-16 光接收机组成框图 * 作用：将光信号转换为电信号。 主要类型：PIN光电二极管和雪崩光电二极管APD 工作原理： PIN光电二极管 光生电流 APD光电二极管 雪崩效应 1.光检测器 * 图2-17 PIN光检测器 工作原理图 * PIN光电二极管 在入射光作用下，由于受激吸收，产生电子-空穴对运动，在闭合电路中形成光生电流，完成光-电转换。 在PN型半导体之间加一层较厚的本征半导体层(I层)的目的，为了提高PN结的光电转换效率和响应速度。 APD光电二极管 在结构上承受高的反偏压(几十至200V)，在PN结中形成强场区，使光生载流子高速移动。高速载流子碰撞晶格原子而产生雪崩效应，使光生载流子产生倍增机制。 APD产生的电流大，且响应速度快。 光检测器 * 图 光电二极管输出电流I和反向偏压U的关系 图 APD载流子雪崩式 倍增示意图 * 光检测器 特性参数 截止波长?c h为普朗克常数; c为光速; Eg为带隙能量,单位为eV。 不同半导体材料，其Eg不同，故工作波长范围也不同。 例：GaAs为700~870nm，Si为500~1100nm,Ge为1100~1600nm等。 * 量子效率? 定义为入射光子能够转换成光电流的效率。 一般要求光检测器的量子效率应高于50%。 响应速度 指光生电流Ip能够响应入射光信号变化的速度。 因素： 与光检测器负载电路的时间常数有关 与器件中载流子在耗尽区的渡越时间及其在耗尽区外的扩散时间有关。 光检测器特性参数 * 暗电流I0 光检测器中的扩散电流，为非光生电流 表现为一种噪声，主要与构成器件的材料及结构有关。 雪崩倍增因子G 描述APD倍增效应的重要参量，定义为雪崩倍增时光电流的平均值与无雪崩倍增时光电流的平均值之比。 一般G在40~100之间。G一般随所加反偏压的升高而增加。 PIN： G=1。 光检测器特性参数 * 倍增噪声（雪崩光电二极管APD） 是伴随光生电流的附加噪声分量。 大小与制作APD的材料有关,比如Si-APD的噪声系数较小,而Ge-APD的噪声系数较大。 光检测器特性参数 * 2.放大器 接收机的内部噪声 包括检测器噪声和前置放大器输入电阻产生的热噪声，以及前置放大器的内部噪声。 前置放大器在较大程度上决定了接收机的噪声性能和接收灵敏度。 光检测器噪声 包括光-电转换过程中产生的量子噪声、光电材料引起的暗电流噪声以及表面漏电流噪声。 提高光检测器的量子效率,以产生较大的电信号功率输出,是提高其信噪比的有效措施。 * 减小前置放大器内部噪声的关键 在于第一级放大器晶体管的选择,适合的器件有两种: 场效应晶体管FET较低的码率(如100Mb/s以下的速率) 双极晶体管BJT（高码率） 高阻型前置放大器 输入阻抗高，利于检测器输出光电流在放大器输入端产生大的电压。 高的输入阻抗利于减小热噪声，提高接收机的灵敏度。 高输入阻抗意味着放大电路的传输带宽较窄。 放大器 * 跨阻型(互阻型或转移阻抗型)前置放大器 更常用。采用负反馈，在不改变噪声性能的条件下增加了带宽。 动态范围有所增加。 例如： ?检测器为PIN的高阻型与跨阻型前置放大器的动态范围分别为15~20dB和30dB; ?检测器为APD的高阻型与跨阻型前置放大器的动态范围分别为20~35dB和35~40dB。 放大器 * 3.均衡 对信道和接收电路的特性进行补偿，以达到减小和消除符号间干扰的目的，使判决再生的码元错误概率得到改善。 4. 判决器和时钟恢复电路 在均衡器输出符号流的最佳位置进行抽样判决,使判决器输出再生的符号流，以便恢复为“1”或“0”数字信号。 5.自动增益控制 用反馈环路来控制主放大器增益，使传送到判决器的信号稳定，以利于判决。 * 螺旋形和正弦形的好处在于留有余量保证光缆的抗拉、弯曲和温度特性；使用阻水带代替油膏可以便于光纤的取出。与层绞式相比，重量轻、装纤密度大。 * * * * 2.3.4 无源光器件 1. 光纤连接器 种类： 固定接头 活动连接 连接附加损耗包括：内损耗和外损耗两部分 内损耗：是指待连接的两纤芯、数值孔径、折射率分布指数失配引起的损耗，其值约为0.5dB； 外损耗：是指待连接的两纤端面存在的横向位移和纵向偏离而引入的损耗，其值一般也约为0.5dB。 * 光纤连接器 * 常用连接