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管制图界限的计算 控制图表的名称与符号 CL UCL LCL 均值--极差控制图X-R图 X图 X X+A2R X-A2R R图 R D4R D3R 均值--标准差控制图X-S图 X图 X X+A3S X-A3S S图 S B4S B3S 中位数--极差控制图Me-R图 Me图 Me Me+A4R Me-A4R R图 R D4R D3R 单值--移动极差控制图I-MR图 X图 X X+E2R X-E2R RM图 RM D4R D3R X bar-R使用Minitab制作步骤如下: 第一步:将数据输入Minitab工作表 将收集的数据输入 第二步:选择“StatControl ChartsVariables charts for subgroupsX bar-R……” 能力分析---CPK 定义: CP是生产过程中的工序能力指数,其值的大小要以反映工序能力的高低,CPK是CP的一个修正值,其关系CPK=CP(1-K),式中K为修正系数,CPK比CP更能说明工序能力的高低.CPK即每个工序达到某种质量水平的能力 概述: 一旦一个过程处于统计控制状态,既可以连续生产,这时可能要确定其否有能力生产出满足规格的产品,能力计算是将规格宽度和过程变异宽度进行比较。 影响工序能力的因素 人: 操作者的技术水平及责任心 机: 生产设备功能和精度 料: 材料的性能(包括直接材料如拉料,附助料如切削油) 法: 工艺方法的特点(机床程序,夹具,刀具及加工参数) 环: 环境变化(温度,湿度,振动,噪音,光线等) 测量: 测量仪器的误差和工装误差 每个方面都存在一些偶然性因素,这些因素都可能使质量特性发生差异或波动,形成自已的频率分布,这些频率分布通常都具有正态分布或近似分布的性质,若我们用σ表示各方面的标准差,6σ则表示工序能力,而这个工序能力只能表示我们目前的工序能力能够达到某种水平,但不能衡量该工序能力是否满足该工序的质量要求.这个要求一般表现为图纸公差(T),为了体现工序能力是否满足工序的质量要求,引进CP工序能力指数,并规定CP=T/6σ,当公差中心M与分布中心U重合时,CP、T与6σ存在以下关系: 由此可见: 当T6σ时,CP1,落在公差内的数较多 当T=6σ时,CP=1 当T6σ时,CP1,落在公差内的数较少 工序潜力:指产品可以达到的能力,用“CP”表示 工序绩效:指产品实际达到的能力,用“CPK”表示 计算方法: 1、工序潜力 2、工序绩效 CPK对工序能力的制定: 1.CPK1 表示工序能力不足. 2.1CPK≤1.33 表示工序能力适当 3.1.33≤CPK≤1.67 表示工序能力可靠 4. 1.67≤CPK≤2.0 表示工序能力充裕 5.CPK2.0 表示工序能力富裕 使用Minitab制作步骤如下: 第一步:将数据输入Minitab工作表 将搜集的数据输入 第二步:选择“StatQuality ToolsCapability analysis(Normal)” 第三步:在出现的对话框输入下图所示信息 如数据存储于一栏中,选择该项 输入子组容量值 输入过程规格下限值数据 输入过程规格上限值数据 指定用于计算过程能力的Sigma间隔.一般为6 输入标题栏 第三步:在出现的对话框输入下图所示信息 第四步:MINITAB图形输出如下图 量具线性和偏倚 定义: 线性:是量具在预期的工作量程内,偏倚值的差 值。 偏倚:是观测平均值与基准值的差值。 使用Minitab制作步骤如下: 第一步:将数据输入Minitab工作表 第二步:选择“StatQuality ToolsGage Linearity Study” 第三步:在出现的对话框输入下图所示信息 选择包含部品名或编号的栏 选择包含测量数据的栏 选择包含测量基准数据的栏 首先通过Gage RR 第四步:MINITAB图形输出如下图 量具重复性和再现性 定义: 重复性:一个人用同一个仪器,检测同一个尺寸获得的测量变差 再现性:由不同的人采用同一仪器检测同一尺寸时测量值的总变差。 量具重复性和再现性概述: 1、 量具重复性和再现性研究的目的是确定观察到的过程变差中测量系统变差所占的比重,Minitab允许进行交叉和嵌套数据的重复性和再现性研究. 2、 Minitab提供了两种重复性和再现性研究方法,分别为Xbar-R方法和方差分析(ANOVA)方法,Xbar-R方法将总测量变差分为三类:产品-产品、重复性和再现性。ANOVA方法将总测量值变差分为四类
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