破坏是为了更强健HALT破坏试验在日本兴起.docx

破坏是为了更强健，HALT破坏试验在日本兴起（一） 图1：从实验结果看HALT HALT是一种有意向电子产品施加剧烈的温度变化和振动进行破坏，通过破坏的结果找出产品缺点的试验方法。为了施加温度变化，直接向产品的印刷电路板上吹送用加热器加热的热风以及用液态氮冷却的冷风（a）。在振动台上按照各种方向设置生成冲击波的活塞气缸，等效产生“6自由度”的随机振动（b）。通过同时施加急剧的温度变化和振动，还能找出普通环境试验难以发现的焊锡开裂等问题（c，d）。本图由《日经电子》根据东阳科技的资料制作而成。 “近一个月已接到70多个咨询。内容涉及车载产品、医疗器械、数字家电及游戏机等，受到了众多领域的关注”（日本东阳科技HALT技术中心主任川上雅司）。“不仅是从事液晶面板模块的零部件企业，复印机、导航仪及数码相机等产品厂商也纷纷开始考虑采用”（EMIC代表董事社长夕田昭夫）。 　　在日本国内，产品厂商和模块厂商对HALT（Highly Accelerated Lifetesting，高加速寿命试验）试验方法的咨询络绎不绝。HALT是向电子产品施加强烈的温度变化和机械振动，人为进行破坏，从而找出产品内在缺陷的试验方法（图1）。其目的并非象普通温度循环试验那样模拟产品的使用环境，而是以破坏为目的，直接向裸露的印刷电路板吹送冷热风，同时施加强烈的机械振动。对于找出的缺陷，通过在产品开发阶段采取对策，期望产品在上市后降低故障率。该方法不是判断产品合格与否的试验，而是产品设计时使用的一种工具。 　　东芝已在笔记本电脑的开发中导入了该方法，并且大幅降低了产品上市后的故障率。三菱电机也在开发FA设备时使用了HALT，提高了FA设备的可靠性。也有不少企业虽然导入了HALT，但却对此守口如瓶。原因是不想让竞争对手知道HALT的好处。从这一意义上说，HALT可谓是“抢占先机的技术”（东阳科技 川上）。 缩短产品开发时间 　　HALT备受关注的最大原因在于该方法可突破原来仅靠环境试验进行产品开发的局限性（图2，表1）。 图2：削减开发时间和成本通过使用HALT，与反复实施DVT的以往方法相比，可缩短产品的开发时间，使量产供货时间提前。另外，通过事先对产品的缺点采取对策，还可减少产品上市后的故障。可削减量产供货后的问题对策成本。本图由《日经电子》根据EMIC的资料制作而成。(点击放大) 　　以前，日本的产品厂商大多通过反复进行DVT（Design Verification Testing，设计验证测试）试验来确认开发中的产品是否达到了产品的设计性能指标。DVT由温度循环试验、高温高湿试验、振动试验等多种环境试验构成，一种试验的时间为数百小时，完成所有试验项目需要数月。其间，如果中途发现问题，还要在改进后的产品上重新进行试验。尽管这一过程的反复次数因产品而异，但一般来说，改进现有产品需要数回，新开发产品则多达数十回。在目前产品开发时间日趋缩短的情况下，DVT所需要的时间就很难保证。 　　另外，即便是通过了DVT，也不能保证产品上市后不发生问题。不仅如此，正如近年来频发的电子产品冒烟、着火事故所显示的那样，“产品上市后的故障确实在不断增加”（楠本化成ETAC事业部顾问井原惇行）。其原因之一在于DVT的标准过于宽松，未能事先发现产品内在的缺陷。而严格DVT标准，比如说将温度循环时间提高一倍等，完成全部试验的时间就会变得更长。  表1　DVT与HALT的不同 HALT有时被译为高加速寿命试验，往往被视为原DVT的一种，但两者的目的及试验方法完全不同。本表由《日经电子》制作。(点击放大) 而利用HALT便可解决DVT实验存在的上述问题。HALT采取向产品施加强大环境应力的手段，3～5天的短周期内即可找出产品的缺点。而且，通过事先对这些缺点采取对策，之后实施DVT时“基本上一次即可通过“（EMIC海外室销售工程师、主管高见哲夫）。比如，在开发液晶面板模块时利用HALT，DVT的反复次数可减至原来的1/5～1/20。由此大幅缩短开发时间便成为可能。 　　利用强大环境应力的HALT甚至还能找出普通DVT往往会漏掉的产品缺陷。因此，HALT比DVT更有可能降低量产供货后出现的故障率，降低供货后采取问题对策时所需成本。冒烟、着火等问题会严重影响企业的品牌形象，所以防止此类问题的出现对于产品厂商来说具有重大的意义。（未完待续，记者：木村 雅秀） 破坏是为了更强健，HALT破坏试验在日本兴起（二） 海外认知度高 　　HALT发明于20世纪80年代的美国，最初是供军品使用的技术。之后，以欧美厂商为主，将其相继应用到了飞机、汽车和电子产品上。法国空中客车、美国苹果、美国戴尔、美国伊士曼·柯达、美国福特汽车、美国通用汽车、美国惠普、芬兰诺基亚、韩国三星电子等著名企业都采用H