核辐射物理与探测学期末.ppt

电离室 工作机制：入射带电粒子(或非带电粒子的次级效应产生的带电粒子)使气体电离产成电子－离子对，电子－离子对在外加电场中漂移，感应电荷在回路中流过，从而在输出回路产生信号。 输出信号：电荷、电流、电压。 是理想的电荷源。 是近似理想的电流源（条件：V(t)V0） 电压信号可通过对输出回路分析得出。 电离室的两种工作状态 脉冲工作状态 离子脉冲（慢、幅度与能量成正比h=Ne/C0） 电子脉冲（快、幅度与能量一般不成正比h=Q-/C0） 圆柱形电子脉冲电离室与屏栅电离室 累计工作状态 输出电流信号 输出电压信号及涨落 脉冲电离室的主要性能 能量分辨率 饱和特性——脉冲幅度与工作电压的关系 坪特性 ——计数率与工作电压的关系 探测效率：记下脉冲数/入射到灵敏体积内的粒子数 时间特性： 分辨时间：能分辨开两个相继入射粒子的最小时间间隔 时滞：粒子入射与输出信号的时间差 时间分辨本领：确定入射粒子入射时刻的精度 累计电离室的主要性能 饱和特性——输出电流信号与工作电压的关系 灵敏度 线性范围——一定工作电压下，输出信号幅度与入射粒子流强度的线性关系范围。 响应时间——反映入射粒子流强度发生变化时，输出信号的变化快慢。 能量响应——灵敏度随入射粒子能量而变化的关系 具有气体放大功能的气体探测器 非自持放电：正比计数器 输出信号幅度与沉积能量成正比。 自持放电：GM管 非自熄 自熄 有机 卤素 输出信号幅度与入射粒子的种类和能量无关。 正比计数器漏计数校正 真信号计数率m，分辨时间? 一信号与前一信号时间间隔小于?的概率为： 单位时间内由于分辨时间影响而丢失的计数为： 实际计数率： 校正公式： 条件： GM管漏计数校正 真信号计数率m，死时间? ，实际计数率n 单位时间内探测器死时间为： 单位时间内由于死时间影响而丢失的计数为： 校正公式： 闪烁探测器 辐射射入闪烁体使闪烁体原子电离或激发，受激原子退激而发出波长在可见光的荧光。 荧光光子被收集到光电倍增管(PMT)的光阴极，通过光电效应打出光电子。 电子倍增，并在阳极或打拿极输出回路输出信号。 第一打拿极收集到的光电子数是其信息载流子数目。 半导体探测器 类似气体探测器（信息载流子为：电子－空穴对），也称为固体电离室。 有三类 均匀型 PN结型 扩散结型、面垒型 高纯锗(HPGe) P－I－N型 锂漂移（锗锂Ge(Li)、硅锂Si(Li)） 各种探测器的能量分辨率 能量分辨率的表示 百分数表示 线宽表示(单位为KeV) 24Na的衰变纲图 24Na的NaI能谱 58Co的衰变纲图 58Co的NaI能谱 高纯锗探测器 1) P区存在空间电荷，HPGe半导体探测器是PN结型探测器。 2) P区为非均匀电场。 3) P区为灵敏体积，其厚度与外加电压有关，一般工作于全耗尽状态。 4) HPGe半导体探测器可在常温下保存，低温下工作。 5) 注意其空间电荷分布、电场分布及电位分布 性能 其中： Si(Li)和Ge(Li)平面型探测器用于低能?(X)射线的探测，其能量分辨率常以55Fe的衰变产物55Mn的KX能量5.95KeV为标准，一般指标约： 1) 能量分辨率： 为载流子数的涨落。 为漏电流和噪声； 为载流子由于陷阱效应带来的涨落，通过适当提高偏置电压减小。 HPGe，Ge(Li)同轴型探测器用于?射线探测，常以60Co能量为1.332MeV的?射线为标准，一般指标约： 2) 探测效率 一般以?3英寸×3英寸的NaI(Tl)晶体为100％，用相对效率来表示。 以85cm3的HPGe为例，探测效率为19％。 3) 峰康比 P = 全能峰峰值/康普顿平台的峰值 与FWHM以及体积有关，可达600～800 4) 能量线性：非常好 5) 时间特性：电流脉冲宽度约10-9~10-8s. 1) HPGe和Ge(Li)用于组成?谱仪：锗具有较高的密度和较高的原子序数(Z=32) 应用 2) Si(Li)探测器 由于Si的Z＝14，对一般能量的?射线，其光电截面仅为锗的1/50，因此，其主要应用为： 低能量的?射线和X射线测量， 在可得到较高的光电截面的同时，Si的X射线逃逸将明显低于锗的X射线逃逸； ?粒子或其他外部入射的电子的探测，由于其原子序数较低，可减少反散射。 探测器的工作机制及输出信号产生的物理过程 气体探测器中的电子－离子对 闪烁探测器中被 PMT的D1收集的电子 半导体探测器中的电子－空穴对 产生每个信息载流子的平均能量分别为 30eV(气体探测器) 300eV(闪烁探测器) 3eV(半导体探测器) 探测器的信息载流子 电离室：电子-正离子对的生成；