统计过程控制spc计点特性的控制图.docxVIP

计点特性的控制图 第二类计数型数据就是“计点的不合格数”。在第十章中我们已经提到，这种类型的数 据计量的是一个或一组部件上的缺陷数。这里所谓的缺陷，可能是刮痕、凹痕、污点或者碎 片等。我们可以将它们归总记为缺陷来画图，也可对每种特定的缺陷单独画图。我们这里所 提到的计点特性控制图，要求对每一样本中的所有缺陷点进行计数（尽管某些时候样本中只 要出现一个缺陷点就应当被拒绝）。用来研究这种类型数据的控制图是 c 图和u 图。 1 c 图 使用 c 图来研究计点特性的数据，我们往往假设样本大小是不变的。这里我们需要用到泊松分布，我们在第二章中曾经提到过，泊松分布主要被用来刻画计数过程或者统计单位 发生数。这里所说的单位可以是一段特定的时间，一个特定的位置或是物品数。 C 图中的缺陷点必须满足三个条件。第一，缺陷点之间必须是相互独立的。例如，因手工操作造成的缺陷和因铸件瑕疵造成的缺陷之间显然是独立的，而由操作仪器上的同一个毛 口造成的缺陷之间则是不独立的。如果我们使用了不独立的数据，很可能导致的后果就是夸 大控制界限甚至歪曲研究结果。 第二个条件是相对来说缺陷的个数应当是稀少的。假设操作仪器毛口损坏部件的概率是四十分之一，尽管也有可能它会损坏每一个部件（当样本量比较小时），但总体来看，每个部件被损坏的概率都是很小的，所以我们就可以认为这符合了第二个条件的要求。 最后一个条件是缺陷点的发生