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第二节纳米材料的成分分析 纳米材料常用的成分分析方法主要有纳米材料常用的成分分析方法主要有： 2.1 X射线衍射法((X-rayy diffraction;; XRD)) 2.2 原子吸收光谱法(Atomic Absorption Spectroscopy; AAS) 2.3 电感耦合等离子体发射光谱法(Inductively Coupled PlasmaPlasma AtomicAtomic EmissionEmission Spectrometer;Spectrometer; ICPICP-AES)AES) 2.1 X射线衍射法(XRD) 22.11.11 XX射线的本质与产生射线的本质与产生 2.1.22.1.2 XX射线与物质的相互作用射线与物质的相互作用 2.1.3 X射线衍射射线衍射 2.1.4 X射线衍射实验方法 2.1.5 X射线物相分析 2.1.6 Rietveld方法 2.1.1 X射线的产生与性质 1895年，德国物理学家伦琴(W.K.Rontgen)，做阴极射 线实验时线实验时，发发现了一种不种不可见的射线的射线，由由于当时不知它当时不知它 的性能和本质，故称X射线，也称伦琴射线。 获得1901年首届诺贝尔物理学