电子元器件失效分析具体案列.pdfVIP

中国赛宝实验室可靠性研究分析中心 案例一： 1 产 品 名 称：单片机 MD87C51/B 2 商标：Intel 3 分 析 依 据：MIL-STD-883E 微电子器件试验方法和程序 微电路的失效分析程序 MIL-STD-883E方法2010 内部目检（单片电路） 4 样品数量及编号：失效样品1＃～6＃，良品7＃～12＃ 5 样品概述及失效背景：MD87C51/B是一高速CMOS单片机。委托方一共提供四种批次的此 类样品。1＃、5＃、10＃、11＃、12＃属9724批次，其中1＃样品已做过二次筛选和环境 应力试验，是在整机测试过程中失效，5＃样品在第一次通电工作不正常，须断电后重新通 电可以正常工作，10＃～12＃样品是良品；2＃、3＃、4＃样品属9731批次，这三个样品 在第一次上机时便无法写入程序，多次长时间擦除，内容显示为空，但仍不能写入；6＃样 品属9931批次，失效情况同5＃样品；7＃～9＃样品属9713批次，为良品。 6 分析仪器 序 号 仪器、设备名称 型 号 编 号 1 立体显微镜