第6章XRD：衍射线指标化和晶__.pptVIP

不能核对上JCPDS卡片的衍射数据的指标化？ 4. 测定材料中晶粒尺寸 不同晶粒尺寸 (a) 1? (b) ~1? (c) ~0.5? (d)~0. 1? 铝样品的衍射图 晶粒粒度测定 Scherrer（谢乐）公式 t ：在hkl法线方向上的平均尺寸（?） k ：Scherrer形状因子：0.89 B ：衍射峰的半高宽（弧度） 2? ? 得到Scherrer公式的方法之一是借用Bragg公式对?进行微分： 2tsin? = ? 2tcos??? = ? 实际峰宽应为零，故半高宽反映了?的变化，令半高宽为B = 2?? = ?(2?) 故有： 以半高宽代表?的变化出自三角形模型。如采用高斯分布，则应乘一系数： B B 5.物质密度的测定 D= ZN/AV =1.66ZN/V Z-单位晶胞中的分子数； N-分子式量； V-单位晶胞体积（ A 3) 例1：金刚石为等轴面心格子, a=0.356nm, D=3.53, 求C元素的原子量。 Z=3.56 3×3.53/1.66×8=12 例2：NaCl为等轴面心格子, a=0.564nm, D=2.16, 求Z Z=2.16×5.64 3/1.66×58.45=4 This chapter is