印制电路板中有害物质分析方法 第 1 部分：铅、汞、铬、镉和溴 的快速筛选 X 射线荧光光谱法 DB34_T 3368.1-2019.pdfVIP

ICS 31.180 L 30 DB34 安 徽 省 地 方 标 准 DB 34/T 3368.1—2019 印制电路板中有害物质分析方法 第 1 部分：铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选 X 射线荧光光谱法 Methods for the analysis of harmful substances in printed circuit boards Part 1 ： Rapid screening and determination of lead, mercury, chromium, cadmium and bromine by X-ray fluorescence spectrometry 文稿版次选择 2019 - 07 - 01 发布 2019 - 08 - 01 实施 安徽省市场监督管理局 发 布 DB34/T 3368.1—2019 前 言 DB34/T 3368《印制电路板中有害物质分析方法》共 6 个部分： ——第 1 部分：铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选 X射线荧光光谱法； ——第 2 部分：卤素（氯和溴）的测定 离子色谱法； ——第 3 部分：多溴联苯及多溴二苯醚的测定 气相色谱-质谱法； ——第 4 部分：铅和镉的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法； ——第 5 部分：汞含量的测定 电感耦合等离子体光谱法； ——第 6 部分：六价铬含量的测定 分光光度法。 本部分为第 1 部分。 本部分按照 GB/T 1.1-2009 给出的规则起草。 本部分由安徽国家铜铅锌及制品质量监督检验中心提出。 本部分由安徽省有色金属标准化技术委员会负责归口。 本部分主要起草单位：安徽国家铜铅锌及制品质量监督检验中心。 本部分参加起草单位：铜陵有色金属集团控股有限公司检测研究中心。 本部分主要起草人：臧真娟、周蕾玲、洪军、汪海、赵亮、龚昌合、黄薇薇。 I DB34/T 3368.1—2019 印制电路板中有害物质分析方法 第 1部分：铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选 X射线荧光光谱法 1 范围 本部分规定了 X 射线荧光光谱法快速筛选印制电路板中有害物质铅、汞、铬、镉、溴的方法原理、 仪器设备、试剂、样品制备、分析步骤、筛选和报告。 本部分适用于印制电路板中有害物质铅、汞、铬、镉、溴的快速筛选，其中所测定的铬、溴是指样 品中的总铬、总溴。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T 15000.3 标准样品工作导则(3) 标准样品定值的一般原则和统计方法 3 方法原理 印制电路板经粉碎、压片形成试样片，利用 X 射线激发待测物质中的原子，使之产生特征 X 射线 荧光光谱，根据其特征谱线（