X射线荧光分析技术.pptVIP

第三节 X射线荧光分析技术(XRF); 利用外界辐射激发待分析样品中的原子， 使原子发出特征X射线（荧光），通过测定这 些特征X射线的能量和强度，可以确定样品中 微量元素的种类和含量，这就是X射线荧光分 析，也叫做源激发X荧光分析。;第三节 X射线荧光分析;1.1 X射线荧光方法的物理基础;1.1 X射线荧光方法的物理基础;2、本质和特点;;E=h ? , ? =c / ? ;波动性; 光电吸收，非相干散射， 气体电离和产生闪光等现象， 以一定的能量和动量为特征； ; 同一切微观粒子一样，X射线也具有波动和微粒的双重性;显然，无论是测量能量还是波长，都可以实现对相应元素的分析，其效果是一样的。; 其一，高能粒子与原子发生碰撞并从中驱逐一个 内层电子，出现一个电子空位,此时原子处于受激态 。 其二，经过10-12～10-14s，外层电子向内跃迁，填 补内层电子空位，同时放出X射线。 第一个过程是吸收入射粒子能量，因而入射离子 的能量必须略高于内层电子的结合能； 第二个过程是放出能量，其特征X射线能量等于两 个能级的能量差。;跃迁选择定则: △n≠0 △l =±1 △j = 0,±1;原子能级及K、L系X荧光谱线产生示意图; K系谱线包括Ka1、Ka2、Kβ1、Kβ2、Kβ3等。并且它们之间的X射线照射量率相差很大。