- 1、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
- 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载。
- 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
物理学报 Acta Phys. Sin. Vol. 63, No. 11 (2014) 118502
溶胶凝胶法制备高性能锆铝氧化物作为绝缘层的
薄膜晶体管
高娅娜 李喜峰 张建华
(上海大学, 新型显示技术与应用集成教育部重点实验室, 上海 200072)
( 2014 年1 月2 日收到; 2014 年2 月25 日收到修改稿)
本文采用溶胶凝胶法制备了锆掺杂铝氧化物(锆铝氧化物) 和铪铟锌氧化物薄膜, 并用于制造薄膜晶体管
的绝缘层和有源层. 锆铝氧化物绝缘层具有较高的介电常数, 其相对介电常数为19.67, 且薄膜表面光滑, 致
密, 其表面粗糙度仅为0.31 nm. 获得的薄膜晶体管具备良好的器件性能, 当器件宽长比为5 时, 器件的饱和
迁移率为21.3 cm /Vs, 阈值电压为0.3 V, 开关比可以达到 , 亚阈值摆幅仅有0.32 V/dec.
关键词: 薄膜晶体管, 锆铝氧化物, 迁移率
PACS: 85.30.Tv, 81.05.Gc, 77.22.Ch DOI: 10.7498/aps.63.118502
流11 . 为了解决上述问题, 提出高 材料和宽禁带
1 引 言 材料相结合的介电材料12 . ZrO 具有较高的介电
常数(25), 而Al O 是一种典型的宽禁带(8.9 eV)
近年来, 非晶氧化物薄膜晶体管(TFT) 由于具 13
材料 . 我们将Al O 掺杂与ZrO 中形成新的锆
有良好光学透过率、较高场效应迁移率、大面积的 铝氧化物(AZO) 介电材料. 并通过溶胶凝胶技术
均匀性等优点, 而在平板显示产业得到广泛的应 制备了AZO 薄膜, 并用作TFT 器件的绝缘层, 有
12
用 . 传统的制备非晶氧化物的方法大多需要真 源层采用铪铟锌氧化物(HIZO) 薄膜, 其中Hf 的加
空工艺3 , 制造成本高. 溶胶凝胶法无需真空, 设 入可以有效的抑制载流子浓度, 降低关态电流和减
备简单, 工艺简单, 生产成本低, 从而引起了人们 14
小亚阈值摆幅 . 文中还研究了不同沟道宽长比
广泛研究4 . 随着显示器件的分辨率越来越高, 对 ( ) 对AZO TFT 器件性能的影响.
TFT 器件提出了更高的要求, 即器件越来越小, 栅
绝缘层的单位电容必须进一步提高. 通常通过降 2 实 验
低绝缘层厚度和高介电常数() 绝缘层来提高单位
电容. 在保持相同电容的情况下, 高介电常数() 本文采用溶胶凝胶法制备的AZO 薄膜和HI-
材料的绝缘层相对较厚, 能够有效的降低漏电流 ZO 薄膜分别作为TFT 器件的绝缘层和有源层. 通
56
引起的结构缺陷和隧穿电流 . 因此高 材料如 过将三仲丁氧基铝和氧氯化锆按
原创力文档


文档评论(0)