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第四章 精密距离测量 §1 长度基准和因瓦基线尺 §2 电磁波测距的基本原理和方法 §3 相位式测距仪 §4 电磁波测距误差及仪器的检验 §5 仪器的简单操作与成果整理 简便仪器加常数（K）检验法： 此项检验每年进行一至二次。此项检验适合在标准基线上进行，也可以按下述简便的方法进行检验 K＝ＡＣ－(ＡＢ＋ＢＣ) K应接近等于０，若｜K｜＞5ｍｍ应送标准基线场进行严格的检验，然后依据检验值进行校正。 互换时，三脚架和基座保持固定不动，仅换棱镜和仪器的基座以上部分，可减少对中误差。 整平仪器：将光学对点器十字丝中心精确地对准测点（地面标志），转动照准部180?，若测点仍位于十字丝中心，则无需校正。若偏离中心，则进行校正。 (2)圆水准器的检验与校正 与普通经纬仪照准部水准器检校相同，即水准轴垂直于垂直轴的检校。 4.测相误差mj 测相误差mj 可分为： 1）m测——测相原理误差 2）m幅——幅相误差 3）m匀——相位不均匀误差 4）m周——周期误差（另做讨论） ①测相原理误差m测 ﹡影响因素 检相电路时间分辨率 时标脉冲频率 ﹡减弱影响措施 提高检相触发器、门电路、开关的灵敏度 采用高频率时标脉冲 闸门时间内几百次至上万次检相，减弱大气抖动、噪音影响 ②幅相误差m幅 由于放大电路有畸变或检相电路本身缺陷，当信号强弱不同时，使相移量发生变化而影响测距成果。 减弱其影响的措施： 1）在测距仪的中低放单元加自动增益电路（AGC）； 2）在仪器内部设置手动或自动减光板或孔径光栅，将接受信号控制在同一强度上。 ③照准误差m匀 （测距误差的主要来源） 减弱这种误差影响的措施： 1）提高调制器或发光管的制造工艺（提高空间相位均匀性）； 2）采用“电照准”、“光照准”的办法提高照准精度。 41 26 31 36 21 20 18 发射光束的空间相位不均匀性，使同一横截面上各部分相位不同。而反射器每次只截获光束横截面上一部分，也即每次照准，反射器位于光斑的不同位置，测得相位差不同。另，内外光路观测时，二者不能截取光束的相同部位，使得内外光路测量产生新的误差影响。 5.仪器加常数的测定误差mk e L r D 6.仪器对中误差mg与棱镜对中误差mR D＝L＋a a＝e＋r 厂家精确测定a，并（对一般中短程仪器而言）保证a＝0。但仪器使用中振动，修理，换件以及使用不匹配的反光镜，使a值可能发生变化。故应对测距仪进行检验，测定剩余加常数k，以便对观测成果进行改正。测定k值之测定误差为mk。一般要求：mk≤m/2，m为仪器设计的偶然误差。 光学对中器或垂球对中，一般可保证对中的线量偏差不超过3mm。对短距离，高精度测量，可进行强制对中。 7.周期误差mZ 应接收 实接收 信号 e1 eK 信号 ⊿j