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- 2019-11-27 发布于天津
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欢迎出席由KIC为您呈现的
;我们将与您分享…; 工艺开发 / 设计;0%;制定您的标准 - 工艺窗口概念;工艺窗口与工艺潜能;工艺窗口指数 PWI
Process Windows Index;工艺能力Cpk;Cpk与PWI存在的问题;0%;稳定工艺的一个主要基础;0.37;分析您工艺的偏移程度;223;分析您工艺的偏移程度;221;Temp. variation among oven #1~#4 for all 7 zones ;分析您工艺的偏移程度;测温监控频率?;Cp = 0.6644 ?;关于测温监控的建议;减少测温对生产的影响;业界使用的测温监控做法;各种重复测温做法的比较;工艺与质量的改善;您会有什么反应?;实时监控;总结;总结;谢谢聆听
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