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?John Z. Rao 2001 raozhong@163.net ?、?变化示意图 时间 特性值 ?不变 ?无规律变化 ?、?变化示意图 时间 特性值 ?规律性变化 ?不变 ?、?变化示意图 时间 特性值 ?无规律变化 ?不变 ?、?变化示意图 时间 特性值 ?无规律变化 ?无规律变化 * SPC培训教程 一、持续改进及统计过程控制概述 二、SPC基础 三、计数型数据控制图 产品质量波动及其统计描述 产品质量特性 定性 定量 连续 离散 计量值 计数值 计件值 计数值 变 异 误差 ?=X-X0 偶然性误差:误差大小和方向的变化是随机的。 系统性误差:误差大小和方向的变化保持不变或按一定规律变化。 过程控制中常用精度这个概念来反映质量的波动(变异)程度。 精 度 精度又可分为: 准确度(Accuracy): 反映系统误差的影响程度; 精密度(Precision): 反映偶然误差的影响程度; 精确度(Uncertainty): 反映系统误差和偶然误差综合的影响程度 精度的概念 准确度好 精密度好 系统误差小 偶然误差小 准确度差 精密度高 系统误差大 偶然误差小 准确度高 精密度差 系统误差小 偶然误差大 准确度差 精密度差 系统误差大 偶然误差大 持续改进及统计过程控制概述 预防与检测 过程控制系统 变差:普通原因及特殊原因 局部措施和对系统采取措施 过程控制和过程能力 过程改进循环及过程控制 控制图:过程控制工具 控制图的益处 持续改进及统计过程控制概述之一检测与预防 过程控制的需要 检测—容忍浪费 预防—避免浪费 持续改进及统计过程控制概述之二过程控制系统 我们工作 的方式 资源的融合 产品 或 服务 顾客 识别不断变化 的需求和期望 顾客的声音 人 ? 设备 ? 材料 ? 方法 ? 环境 ? ? 输入 ? 过程/系统 ? 输出 过程的声音 统计方法 有反馈的过程控制系统模型 持续改进及统计过程控制概述之三变差的普通原因及特殊原因 SPC基础 SPC (Statistical Process Control) 统计过程控制:利用统计技术对过程中的各个阶段进行监控,从而得到保证产品质量的目的。 二十世纪二十年代美国休哈特(W.A.Shewhart)首创过程控制(Process Control)理论极其监控过程的工具—控制图(Control Chart)形成SPC的基础,后扩展到任何可以应用的数理统计方法。 控制图(Control Chart):对过程质量特性记录评估,以监察过程是否处于受控状态的一种统计方法图。 1924年5月6日休哈特提出的不合格样品率P控制图为世界第一张控制图。 产品质量的统计观点一 产品质量具有变异性 影响产品质量的因素有6M Man: 人 Machine: 机 Material: 料 Method: 法 Mother-nature: 环 Measurement: 测 无论人类社会如何进步发展,产品质量不可能保持绝对恒定,一定具有变异性。 产品质量的统计观点二 产品质量的变异具有统计规律性 确定性现象,确定性规律:在一定条件下,必然发生或不可能发生的事情。如一个大气压(760mm汞柱)下,H2O的变化规律。 温度 ? 0℃ 固体状态 温度 0 ℃ t 100 ℃ 液体状态 温度 ? 100 ℃ 气体状态 随机现象,统计规律:在一定条件下事件可能发生也可能不发生的现象。如我们无法预知内存电性能测试合格率大于99%,但大量统计数据证明有99%的可能性大于99%。 正态分布 分布(distribution):用来描述随机现象的统计规律,说明两个问题:变异的幅度有多大;出现这么大幅度的概率。 计量特性值:如PCB金手指厚度、重量或时间等连续性数据,最常见的是正态分布(normal distribution)。 计件特性值:如内存合格/不合格两种离散性数据,最常见的是二项分布(binomial distribution)。 计点特性值:如每条内存上少锡点数等离散性数据,最常见的是泊松分布(Poisson distribution)。 由于二项分布和泊松分布数据数理统计理论较复杂,以下讨论以正态分布为例。 正态分布 直方图(histogram):在横轴上以样本数据每组对应的组距等距离线段为底,纵轴表示样本数据落入相应直方组的频数的n个矩形所组成的图形。如100条PCB金手指厚度,标准50?3.94。 用面积表示频率或频数 统计学显示计量特性值分布特点是:中间高,两头低,左右对称 正态分布 正态分布:直方图所取得数据越多,分组越密
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