用OrCADPspice测量电子电路常用方式.pptVIP

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  • 2019-12-08 发布于广东
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在第三章中,按照电路特性分类介绍了用Pspice分析电路的基本方法。一般来说,测量电子电路用的就是这些方法。有些电路指标的测试可以直接用基本方法,比如测量静态工作点用静态工作点分析方法,测量频率特性用交流分析方法等。但也有些电路指标的测试可使用多种方法,有些指标的测试需要一点技巧。下面介绍几种常用测试方法和测试技巧。 第九章 用OrCAD/Pspice测量电子电路的常用方法 一 .测量电压放大倍数 1.直耦放大器 用直流传输特性分析(TF分析)最方便,并能同时求出电路输入电阻和输出电阻。 举例:实验6 差动放大器 注意该法只能用于分析直耦电路,不能分析阻容耦合电路。 2.阻容耦合放大器 可用以下方法测量阻容耦合放大器的电压放大倍数。 (1)设置瞬态分析。分析后,得到输出、输入的波形图,启动标尺测出它们的峰值,两者相除,即得到电压放大倍数。 (2)设置交流分析。分析后,得到幅频特性,可直接测出电压放大倍数。 (2)进行交流分析。运行后在Probe窗口中,执行Trace/Add Trace命令,选择V(Out)/ V(Vs:+)作输出量。启动标尺测出中频处的电压放大倍数。

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