薄膜物理磁控溅射基本原理.pptVIP

  • 96
  • 0
  • 约1万字
  • 约 58页
  • 2019-12-14 发布于广东
  • 举报
图2-27说明,在周期表每一排中,凡电子壳层填满的元素就有最大的溅射率。因此,惰性气体的溅射率最高。而位于元素周期表的每一列中间部位元素的溅射率最小,如 Al、Ti 、Zr等。所以,在一般情况下,入射离子大多采用惰性气体,考虑到经济性,通常选用Ar为工作气体,同时,惰性气体可以避免与靶材发生化学反应。 2)入射离子能量与溅射率的关系 入射离子能量大小对溅射率有显著影响。当入射离子能量高于某一个临界值(即溅射阈值)时,才发生溅射。 图 2-25 为溅射率与人射离子能量之间的典型关系曲线。结果表明,当人射离子能量较小时,溅射率随入射离子能量的增加而呈指数上升,其后,随人射离子能量的增加出现一个线性增大区,之后逐渐达到一个平坦的最大值并呈饱和状态。如果再增加 E 则因离子注人效应反而使 S 值开始下降。 用 Ar 离子轰击铜时,离子能量与溅射率的关系如图 2-26 所示,图中能量范围扩大到 100keV ,这一曲线可分成三部分:第一部分是几乎没有溅射的低能区域;第二部分的能量从 70eV 至 10keV ,这是溅射率随离子能量增大的区域,用于溅射淀积薄膜的能量值大都在这一范围内;第三部分是 30keV 以上,这时溅射率随离子能量的增加而下降。此时轰击离子深人到靶材内部,将大部分能量损失在靶材体内,而不是消耗在靶表面。 3)入射离子入射角与溅射

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档