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3.計算管制界限 UCLp=P+3 2.記錄數據及計算各組不良率Pi及總不良率 ?將數據記錄於空白的計數值管制圖上 ?計算各組不良率Pi及總不良率p pi=di/ni p=Σdi/ Σni ni為第i個樣本容量 di為其中的不合格品數 √ P (1-P) ni CLp=P LCLp=P -3 √ P (1-P) ni 當 nmin≧n/2 nmax≦2*n 其中n=Σni/k k為樣本組數 此時ni 可用n代替 SPC統計製程管制入門 應用步驟 1.收集資料：收集數據並描繪於管制圖上。　　　　　2.計算管制界限：由收集的製程數據計算管制界限，設　定管制圖。　　　　　　　　　　　　　　　　　 3.解析及改善：持續收集數據，計算製程能力，找出變　異的特殊原因並改善製程系統。　　　　　　　 　 4.繼續使用管制圖：定期檢討管制界限並修正以配合時　代變遷，使用新管制界限再持續監控。 範例八 一產品的重要品質特性G，其規格為0.65+/-0.02，自現場抽取樣本大小n=10之樣組共25組，其每組之均數及全距值如下： 試求