温度特性标定试验方案.docVIP

MACROBUTTON MTEditEquationSection2 SEQ MTEqn \r \h SEQ MTSec \r 1 \h SEQ MTChap \r 1 \h 温度特性标定试验方案 一、试验目的 由于MEMS陀螺仪对温度变化很敏感，它的表头的尺寸结构、材料的弹性模量以及陀螺仪检测电路中电子器件的性能都会随温度的变化而变化，这将会导致陀螺仪零位输出与标度因子等随环境温度变化，使得陀螺精度降低，其温度稳定时间增长。如果在温度稳定条件应用，将会增大准备时间。为了提高陀螺仪精度，缩短预热时间，对其进行温度偏移特性研究是很有必要的。 当惯性器件上电启动工作后，其温度将随时间不断上升，这将导致零点偏移和标度因数等因素也随之变化。另外，在不同的外界环境中，惯性器件的误差特性也有所不同。因此，如何对其进行温度补偿需要根据具体的应用环境设计。由于试验条件的限制，本文中只研究温度对惯性器件零点偏移值的影响。 因此，本次试验的目的为在有限预热条件下，研究温度变化对惯组零点偏移的影响，并建立陀螺仪零偏的温度补偿模型。 二、试验设备及仪器 惯组1个，温控箱1个，RS232串口连接线1条，个人PC机1台，稳压电源1台。 三、试验原理 实际应用环境的不同将导致其温度变化模式不同。如有的系统准备时间较长，则工作时惯性器件的温度已经达到了稳定，这时只需确定不同温度点的零点偏移和标度因