光谱方式基本原理和应用.ppt

2.5 X射线及光谱 分类： 大角X射线衍射 WAXD→小分子； 小角X射线衍射 SAXD→大分子； X射线光电子能谱 XPS→大、小分子都可。 2.5 X射线及光谱 2.5.1 WAXD的原理 a. X射线种类(依波长而定)： 白色X射线：具有连续变化波长； 特征X射线：电压超过临界值时的特定波长。 b. X射线与电磁波的关系： X射线是一种波长很短的电磁波,与电压有关. λk=12.4/V k λk－电磁波的波长0.001~10nm范围,但0.05~0.25nm为常用波段； V k－电压(kv) c. X－Ray产生的原因 是因为原子内层电子在高速运动电子的冲击下产生跃迁而发射的辐射，所以X－Ray衍射就是将X－Ray作为辐射源. 2.5 X射线及光谱 2.5.1 WAXD的原理 d. 衍射概念：(diffraction) 晶体中原子散射的电磁波互相干涉和相互叠加，在某一方向得到加强或抵消的现象称为衍射，相应的方向也叫衍射方向； 材料中具有晶区，就会有XD现象。 e. 散射概念：(scattering) 当一束平行的X光投射到晶体上，一部分被吸收，使晶体产生周期性变化的电磁场，使原子中的电子也进行周期性振动，并使振动着的电子成了新的电磁波波源，向四面八方发射出与入射X射线波长、相位均相同的电磁波的现象称为散射。 原子散射X射线的能力与原子中所含电子数成正比。 材料中具有晶区和非晶区，就会有XS现象。 2.5 X射线及光谱 2.5.1 WAXD的原理 f. 晶体：由原子、离子或分子在空间按周期性排列而形成的固态物质。所谓周期性即按一定数量、种类的原子、离子或分子在空间排列上，每隔一定距离重复出现前面的排列形式。 每种晶体都有自己特定的衍射图。 g. Bragg 方程与衍射条件：p69 图7－1 nλ＝2 d sinθ n－衍射级数=波长整数； λ－入射的X射线波长； d－两晶面之间的距离； θ－入射角。 2.5 X射线及光谱 Bragg 方程的说明 只有当光程差为入射X射线波长整数倍 时衍射才能相互加强，即符合Bragg方程； 在试验中，由于λ已知，θ可测出，所以d可求出。 2.5 X射线及光谱 2.5.2WAXD 测试方法 (1)仪器：X射线仪主要由X射线发生源、测角仪、测X射线强度的计数－记录装置； (2)多晶照相法：试样是多晶或非多晶材料，比如：高聚物可能具有非晶态、半晶态； (a) 测纤维、粉末，利用X射线的感光效应，用特制胶 片记录材料的衍射方向和强度。P71图7－7四种聚 集态。 (b)多晶照相法作用：判断试样的结晶状况 I、有无结晶：有结晶－呈环状；无结晶－散射； II、是否择优取向：择优取向－呈环状；部分择优 取向－呈现不连续的环形线条；不择优取向－ 同心环； III、取向程度：环色度、直径。 2.5 X射线及光谱 2.5.2WAXD 测试方法 (3) 多晶衍射仪法 （峰位＝2θ） a.样品厚度1mm，均匀，平整，纤维制成粉末状。 b.衍射强度I和衍射角2θ的关系。P73 图7－10 判断准则： I、有无结晶：有－尖峰，且无肩峰；无－无尖峰； II、有无半晶：有-尖峰＋肩峰； II、是否择优取向：择优－I强度大；不择优－I强 度小。 2.5 X射线及光谱 2.5.3WAXD 应用 (1)物相分析：分析元素间化学结合状态和物质聚集态结构； a.鉴别是否有结晶：有结晶－有尖峰；有半晶－尖峰+肩峰；无结晶－无尖峰。 b.鉴别聚合物：与标准样品的图对比，需2θ的度数。 c.识别晶体类型：与标准样品比较。 (2)结晶度的测定:(尖峰与弥散隆峰之比) 质量结晶度 X c=I c/(I c+k I a) X c－结晶度指数；I c－晶态部分衍射强度（尖峰）； I a－非晶态部分衍射强度（隆峰）； I c－晶态部分衍射强度（尖峰）； k－单位质量非晶态与单位质量结晶态的相对射线系数，约为1； 2.5 X射线及光谱 2.5.3