第七节数字信号处理实验.docVIP

实验一： 系统及响应时域采样及频域采样 1. 实验目的 (1)掌握用卷积求系统响应及卷积定理的验证； (2)掌握连续信号经理想采样前后的频谱变化关系， 加深对时域采样定理的理解。 (3)掌握频域采样引起时域周期化概念， 加深对频域采样定理的理解。 (4) 掌握序列傅里叶变换的计算机实现方法， 利用序列的傅里叶变换对连续信号、离散信号及系统响应进行频域分析。 3. 实验内容及步骤 (1) 认真复习卷积定理、 时域采样和频域采样理论。 (2) 编制实验用主程序及相应子程序。 ①系统单位脉冲响应序列产生子程序。 有限长序列线性卷积子程序， 用于完成两个给定长度的序列的卷积。 可以直接调用MATLAB语言中的卷积函数conv。 conv用于两个有限长度序列的卷积，它假定两个序列 都从n=0开始。调用格式如下： y=conv (x, h) ② 卷积定理的验证。 （3）时域采样定理的验证：信号产生子程序， 用于产生实验中要用到的下列信号序列： xa(t)=Ae-at sin(Ω0t)u(t) 进行采样， 可得到采样序列 xa(n)=xa(nT)=Ae-anT sin(Ω0nT)u(n), 0≤n50 其中A为幅度因子， a为衰减因子， Ω0是模拟角频率， T为采样间隔。 这些参数都要在实验过程中由键盘输入， 产生不同的xa(t)和xa(n)。 %1时域采样序列分析 A=400;a=200;w=200; n=0:50-1;fs=1000; xa=A*exp((-a)*n/fs).*sin(w*n/fs); k=-200:200;w=(pi/100)*k; Xk=fft(xa,length(k));magX=abs(Xk);angX=angle(Xk); subplot(2,1,1); stem(n,xa,.);xlabel(n);ylabel(xa(n)); title(信号的类型); subplot(2,1,2);plot(w/pi,magX);xlabel(w/pi); ylabel(|Yjw|);title(Y(|jw|)); （4）频域采样定理的验证： %1时域采样序列分析fs=1000 A=400; a=200; w=200;; ts=64*10^(-3); fs=1000;T=1/fs; n=0:ts/T-1; xn=A*exp((-a)*n/fs).*sin(w*n/fs); Xk=fft(xn); subplot(3,2,1);stem(n,xn);xlabel(n,fs=1000Hz); ylabel(xn);title(xn); subplot(3,2,2);plot(n,abs(Xk));xlabel(k,fs=1000Hz); title(|X(k)|); %频域采样定理验证 M=26;N=32;n=0:M;n1=0:13;x1=n1+1; n2=14:26;x2=27-n2; x=[x1,x2];Xk=fft(x,512); X32k=fft(x,32); k=0:511;w=(pi/512)*k; subplot(321);stem(n,x);xlabel(n); ylabel(xn);axis([0,31,0,15]); subplot(322);plot(w,abs(Xk));xlabel(k); ylabel(|X(k)|);axis([0,1,0,200]) X16k=X32k(1:2:N); x32n=ifft(X32k);x16n=ifft(X16k,16); k1=0:31;k2=0:15; subplot(323);stem(k1,abs(X32k));xlabel(k); ylabel(X32k);axis([0,31,0,200]); subplot(325);stem(k2,abs(X16k));xlabel(k); ylabel(|X(k)|);axis([0,15,0,200]) n=0:31; subplot(324);stem(n,abs(x32n));xlabel(n); ylabel(|x(n)|);axis([0,31,0,15]) n1=0:15; subplot(326);stem(n1,abs(x16n));xlabel(n); ylabel(|x(n)|);axis([0,31,0,15])  实验二： 用FFT作谱分析 1.实验目的 (1) 进一步加深DFT算法原理和基本性质的理解(因为FFT只是DF