工艺与器件和可靠性分析.ppt

高温老化试验电路有串联开关和并联开关两种试验电路。 串联开关试验电路又称环形计数器电路。特点是：把全部受试器件的输入、输出端串联起来组成一个环形计数电路。由于前级得输出就是后级的输出，即后一级就是前级的负载，从而无需外加激励信号和外加负载，所以设备简单，容易实现。缺点是任一级器件失效，整个环形震荡器中断工作，试验停止，直到更换失效损坏器件后，试验才重新开始。 并联开关试验的电路特点是：试验器件与激励电源并联，每个被试器件都能单独有外加开关电压驱动，每个被试器件的输出端都可结一个模拟最大值的负载，避免了串联老化时一个器件失效，整个试验停止的缺点。 高温动态老化试验条件： 在最高额定工作电压和最高额定温度下老化168 ~240小时，如军用器件可选择100~168小时，宇航器件240小时，而民用器件通常只用几个或十几个小时。 无源器件的老化：对电阻电容的等无源器件，通常彩玉偶那个高温老化，即 在电容器最高额定工作温度下施加额定电压，持续96~100h,剔除因介质缺陷导致的短路、击穿等。另外也能剔除电解液泄漏，对没有瑕疵的电容，也能因老化消除介质中的内应力使容量稳定。电阻的高温老化能剔除电阻薄膜缺陷等产生的失效。 产品鉴定和验收的可靠性试验 产品在初期研制可靠性评审通过后，就要进行试制性大批量生产，以考核设计文件、工艺设备和质量保证的可行性。以及原材料、试剂等的一致性、稳定性，