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LED?照明产品加速衰减试验方法简介 杨志豪，陈凯，李蕴，黄昊培 （国家半导体光电产品检测重点实验室，广东?江门?529000） 摘??要：本文简要介绍了目前我国?LED?照明产品加速衰减试验方法与美国能源之星(ES)和国际 照明委员会(IEC)在该领域的试验方法的异同，重点介绍了我国国家半导体照明工程研发及产业 联盟标准化委员会(CSAS)制定发布的联盟标准?CSA?020《LED?照明产品加速衰减试验方法》的 试验原理及试验流程，对企业增强自身市场竞争力和应对国际贸易技术壁垒具有积极的作用。 关键词：衰减；寿命；LED?灯；光通维持率 中图分类号：TM923.34 文献标识码：B Method?of?Accelerated?Degradation?for LED?Lighting?Products Yang?Zhihao,Chen?Kai,?Li?Yun,?Huang?Haopei （State?Key?Testing?Laboratory?of?Semiconductor?Optoelectronic?Product,?Jiangmen?529000,?China） Abstract:?This?article?discusses?the?difference?of?method?of?accelerated?degradation?for?LED?lighting prod