EL检测仪的使用方法及组件隐裂图像评估-新版.pptxVIP

EL检测仪的使用方法及组件隐裂图像评估;; 原理描述: EL测试仪是通过对电池片通入1-40mA的正向电流，利用光生伏打效应的逆过程，给太阳电池通电使其发光即电致发光，利用成像系统将信 号发送到计算机软件，经过处理后将太阳电池的EL图像显示在屏幕上。太阳电池电致发光亮度正比于电子扩散长度，正比于电流密度。通过EL图像的分析可以有效地发 现光伏组件是否存在隐裂和破片等现象。;EL测试仪的原理; EL测试仪在测试的时候，采用的是单相继镜面反射式拍摄模式，所以拍摄的EL图跟实物是镜像对应关系。;; 目前公司使用的是莱科斯—LX-Z220便携式EL检测仪，整套测试仪由四大部分组成，分别为成像系统、电源系统、支架系统和暗室系统。; （3）支架系统： （4）暗室系统： ;EL测试仪的结构及使用方法;EL测试仪的结构及使用方法;EL测试仪的结构及使用方法;；并通过电压显示屏/电流显示屏显示相应输出参数（当没有负载接入时，电压显示屏只显示当前输出电压，电流显示屏显示输出电流为0） ●输出选择按钮点击后，电源按照设置参数输出，再次点击将断开输出电压电流，显示屏显示为0V0A. ●电压输出正极连接组件正极，电压输出负极连接组件负极。;EL测试仪的结构及使用方法;EL测试仪的结构及使用方法;三、EL测试仪的功能及应用场合;三、EL测试仪的功能及应用场合;缺陷种类一：黑心片; 黑斑片一般是由于硅料受到其他杂质污染所致。通常少数载流子的寿命和污染杂质含量及位错密度有关。黑斑中心区域位错密度107 个/cm2，黑斑边缘区域位错密度106个/cm2 均为标准要求的1000～10000倍这是相当大的位错密度. 危害：组件使用中产生热斑烧毁组件，且导致出厂功率下降。 ; 焊接短路黑片 造成原因：一般焊接时收尾处堆锡导致电池片正负极短路。;来料黑片（全黑/半边黑） 造成原因： 目前常规硅片为P型片，工艺要求加磷形成PN结。如果硅片错用N型片，依然使用常规加磷工艺就会造成无PN结形成（N型片加硼）。从而导致全黑。 ;半边黑 造成原因： 背铝场印刷偏移，导致和导电正极??线无接触错位，局部开路。 危害：所有黑片都是不允许出现在组件中，黑片的存在会引起组件正常的使用异常，且功率损失非常大。 ; 电池片断栅是在丝网印刷时造成的，由于浆料问题或者网版问题导致印刷不良。轻微的断栅对组件影响不是很大，但是如果断栅严重则会影响到单片电池片的电流从而影响到整个组件的电性能。 ;集中式断栅 危害：造成断栅处电流收集障碍，影响组件的发电效率。 值得注意的是，如果电池片焊接中出现过焊现象，导致主栅线电流收集堵塞也会显现上述情况。（下图）; 混档是由于转换效率不同的电池片混入同一个组件中，特别明亮的电池片是电流较大的电池片，电流差异越大，亮度的差异就越明显。 危害：混档会导致高档次的电池片在组件工作过程中不能彻底发挥其发电能力，从而造成浪费。而低效率的电池片在时间发电中会发热过大，从而产生热斑效应，对组件的寿命和性能产生隐患。; 虚焊是因为焊接过程中焊带和电池电极没有形成良好的接触面导致电流收集障碍。虚焊有正极虚焊 负极虚焊，正极虚焊成条状如图左，负极虚焊多数成团状面积较小如图右。 危害：虚焊部分接触电阻增加，导致发热异常。虚焊组件热斑爆板的概率非常高。 ; EL显示中间发黑，四周发亮。经检测属于电池片中间未扩散或者扩散面放反流入下到工序导致。 危害：影响组件使用发电效率和寿命。漏电区域容易烧毁组件。 ; 隐裂的产生原因非常多，主要是因为外部压力或者自身应力原因导致电池片硅基出现裂纹。隐裂缺陷一般通过肉眼无法识别，只有经过EL测试设备，隐裂地方会出现黑色纹路。 在实际情况中，还有那些类型会造成电池片 成像时带有黑色纹路？; 裂纹可能造成电池片部分毁坏或电流的缺失。在EL测试下，如果表现为以裂纹为边缘的一片区域呈完全的黑色，那么该区域为破片。裂纹会造成其横贯的副栅线断裂，从而影响电流收集降低组件功率。根据此特性，各种裂纹造成的电池失效面积如下： 危害：1.造成相应的电池片面积失效，从而降低组件功率输出。 2. 严重的情况下会引起组件热斑烧毁。 3. 造成组件表面形成蜗牛纹，非常影响外观。 4. 隐裂具有一定的延伸