TiO薄膜的制备及其光催化性能表征.pptVIP

TiO2 薄膜的制备及其光催化性能表征;研究背景;TiO2 薄膜的制备;RS和 TiO2 薄膜的 XRD分析;为表征红外灯干燥后薄膜表面 TiO2的晶相， 以洁净玻璃片为参比对薄膜进行 XRD分析。 RS–2 制备的 TiO2 薄膜表面没有锐钛矿衍射峰的存在，原因可能是 RS–2 结晶度低且薄膜表面含有的 TiO2 量少， 衍射峰强度弱被玻璃基片干扰而不能出现。 由 RS–6 和 RS–10制备的 TiO2薄膜表面含有明显的锐钛矿相衍射峰，这说明薄膜表面含有良好锐钛矿结晶相的 TiO2，采用这种工艺直接干燥就可得到具有光催化活性的 TiO2 薄膜。;RS–2 溶胶制备的 TiO2 薄膜表面很平滑，看不到锐钛矿晶粒的存在。 随溶胶回流时间的延长，RS–6 制备的 TiO2 薄膜表面出现了粒径为 30～40 nm的球形锐钛矿相晶粒， 并且晶粒之间排列非常均匀致密， 薄膜中没有发现气孔， 仅有少许裂纹存在。 随回流时间的进一步增加，由RS–10制备的TiO2薄膜中锐钛矿相晶粒的粒径不断增大，达50～70 nm，并且薄膜表面仍然保持均匀致密，但此时薄膜粗糙度有一定增加。这说明回流时间对 RS 中锐钛矿晶粒的粒径影响很大，随回流时间延长，RS中锐钛矿相结晶度不断提高，晶粒粒径不断增加，可见回流时间增加有助于 TiO2 晶粒的生长。 经过回流处理的 RS在较低温度可生成锐钛矿相， 这些锐钛