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智能仪器可测试性设计 电子科学与工程学院 2004年6月 主要内容 可测试性概述 固有测试性设计 机内自测试技术---BIT 设计实例 随着计算机技术的飞速发展和大规模集成电路的广泛应用，智能仪器在改善和提高自身性能的同时，也大大增加了系统的复杂性。这就给智能仪器的测试带来诸多问题，如测试时间长、故障诊断困难、使用维护费用高等，从而引起了人们的高度重视。自20世纪80年代以来，测试性和诊断技术在国外得到了迅速发展，研究人员开展了大量的系统测试和诊断问题的研究，测试性逐步形成了一门与可靠性、维修性并行发展的学科分支。 可测试性是系统和设备的一种便于测试和诊断的重要设计特性，对各种复杂系统尤其是对电子系统和设备的维修性、可靠性和可用性有很大影响。可测试性设计要求在设计研制过程中使系统具有自检测和为诊断提供方便的设计特性。具有良好测试性的系统和设备，可以及时、快速地检测与隔离故障，提高执行任务的可靠性与安全性，缩短故障检测与隔离时间，进而减少维修时间，提高系统可用性，降低系统的使用维护费用。 可测试性概述 可测试性与可测试性设计 测试性要求 测试方案 可测试性设计优点 可测试性概述 可测试性 可测试性（Testability）是指产品能够及时准确地 确定其自身状态（如可工作，不可工作，性能下 降等）和隔离其内部故障的设计特性。 可控制性(Controllability) 可观测性