实验一 逻辑门电路的逻辑功能与性能参数测试.pptxVIP

实验一 与非门测试二、预习要求 1．了解TTL和CMOS与非门主要参数的定义和意义。2．熟悉各测试电路，了解测试原理及测试方法。3．熟悉74LS00、74LS02、74136、74LS125和CC4011的外引线排列。4．画实验电路和实验数据表格。2012-3-20 图1.1三、实验内容与要求1、测量TTL与非门的主要参数 （1）输出高电平VOH测试（图1.1）（2）输出低电平VOL测试（图1.2） 2012-3-20 IISmA图1.3空载 带载 (5.1K)带载 (510)VOH VOL TTL与非门的电源电压只能是+5VTTL与非门多余输入端处理：接+5V、并联 、悬空。 （3）输入短路IIS测试（图1.3）2012-3-20RP510Ω100ΩmAVo≤0.4V为合格+V-图1.4（4）扇出系数N的测试（图1.4）N＝IOL/IIS8为合格。2012-3-20如图1.52 .测量TTL与非门的电压传输特性(选做）　在示波器上用X-Y显示方式观察曲线，并用坐标纸描绘出特性曲线，在曲线上标出VOH、VOL、VON、VOFF，计算VNH、VNL。如图1.5 所示。2012-3-20测试要点：1、首先：观察Vi、VO波形（直流耦合方式）。2、 示波器作为“X/Y”显示方式。3、找到电压传输特性的坐标原点。 4、画出特性曲线并标上出所有参数。如何找“X、Y”轴坐标原点？