Q_340172YXBDT 001-2019T800集成电路测试设备.pdf

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2020-02-26 发布于湖南
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Q/340172YXBDT Q/340172YXBDT 001-2019 代替Q/SLSJD 1-2011 该标准已 2 0 1 9 年 1 2 月 1 8 日 1 4 点 1 5 T800 集成电路测试设备分废止该标准已 2 0 1 9 年 1 2 月 1 8 日 1 4 点 1 5 分废止 2019-11-08 发布 2019-12-08 实施发布 Q/340172YXBDT 001-2019 前言本标准按照GB/T 1.1 《标准化工作导则第1 部分：标准的结构和编写》给出的规则起草。本标准由合肥悦芯半导体科技有限公司提出。本标准起草单位：合肥悦芯半导体科技有限公司。本标准主要起草人：张悦。