数字集成电路第9章 数字集成电路的测试.pptVIP

一、数字集成电路测试的基本概念 数字集成电路测试的意义在于可以直观地检查设计的具体 电路是否能像设计者要求的那样正确地工作。被测试的电路称 为被测器件(DUT：Device Under Test)，产生被测电路测试向 量的过程称为测试生成(Test Generation)，产生的测试向量又 称为测试图形(Test Pattern)。整个测试过程是通过自动测试设 备(Automatic Test Equipment)对 DUT施加测试图形并捕获和分 析DUT的响应来实现的。 集成电路芯片的测试分为功能测试和参数测试，其中功能测试又分 为两种基本形式：完全测试和功能测试。完全测试就是对芯片进行全部状 态和功能的测试，要考虑集成电路所有的可能状态和功能，即使在实际应 用中某些状态并不会出现。功能测试就是只对在集成电路设计之初所要求 的运算功能或逻辑功能是否正确进行测试。显然，完全测试是完备测试， 功能测试是局部测试。 测试的最终目的，是为了发现电路中由于设计或制造所带来的错误。 错误在不同的层次具有不同的含义：如设计阶段技术规范不完全一致，设 计规则违例：制造阶段使用了错误的元件，不正确的开路等；在电路生存 周期中元件的老化和损耗等。 从测试的结果来看，所有的错误都表现为电路有故障。通常设计错误称 为设计故障，制造错误、物理失效合称为物理故障。 在测试时，所有的故障都是通过逻辑值来确定的，因此要对物理故障建立相应的逻辑故障。将物理故障转化为逻辑故障有利于抽象地理解系统的故障。同时有些物理故障可以转化为同一个逻辑故障。简化了故障的复杂度。 根据系统在某一时刻出现故障的个数，故障类型可以分为单故障和多故障，频繁测试策略证明，但故障出现的概率远高于多故障，且能检测单故障的测试图形对多故障也有较高的覆盖率。 要对一个系统进行测试，就必须建立一个故障模型，一般来说，在门级故障模型中通常认为元器件无故障，只有器件之间的互联可能有问题。 故障覆盖率：用测试向量集可以测出的故障与电路中所有可能存在的故障之比，称为故障覆盖率。 单固定故障主要反映电路中某根线上的信号不可控，即永 远运行在某一个固定值上。在电路中，如果该线固定在高电平 上，称之为固定 l 故障（ stuck - at - 1 ) ；反之则称为固定 0 故障（stuck - at - 0）。如图 给出了一个单固定故障示 例。图中．若与非门的输人端 A 固定接地．则输人端 A 的逻 辑值始终表现为 0 ．用s - a – 0（stuck - at – 0）表示，记 为 A / 0。若或门的输出 Y 固定接电源，则输出端 Y的逻辑值 始终表现为 1 ，用s - a - 1（stuck - at - 1）表示。记为 Y/1。 一个单固定故障包含了三个特征： 1）故障线永远固定于某一个逻辑值。 2）故障可以是一个门的输人也可以是一个门的输出。 3）在某一时刻只能有一个故障 如果电路中在某一时刻同时存在两根或两根以上的信号线 固定于某一逻辑值．则这样的故障称为多固定故障。随着 VISI 的发展，单个芯片上门电路的规模不断增大，芯片上出 现多固定故障的概率也随之不断提高。有趣的是，通过一些学 者的研究发现，对于单固定故障覆盖率达到 100 ％的测试， 可以期望检测大部分的多固定故障。但是并非所有的多固定故 障都能被单固定故障测试图形检测到。 如图是一个多固定故障的例子这个多固定故障是由两个单固定故障组合而 成，并且当与门（AND1） 不存在故障，或门（OR）的固定于0故障是可 以被检测到的；反之当OR 门不存在故障， ANDI 的固定于 l 故障也是可 以被检测到的。但是在这个多固定故障中，由于 OR 的输出固定于0，因 此 AND1 的输出固定于 l 这个故障无法被检测到，这称为故障屏蔽。并 非所有由单固定故障组成的多固定故障都能被检测到。 电路中信号短接在一起的故障称为桥接故障。常见的桥接 故障有两种：一是输人端之间的桥接故障，二是元件输入端和 输出端之间的反馈式桥接故障。 单固定故障的测试集也可用来检测桥接故障，对一些特殊 的电路还会有100 ％的故障检测率。 在实际的电路中，并非所有的故障都会对电路产生影响，有一些故障并不修 改电路的功能，因此称这种故障为冗余故障。冗余故障是一种典型的不可测 故障。 如图所示，图（ a ）中 ANDI 存在一个冗余故障s-a –1 ，其输出函数为 AB。假设该冗余故障不存在．则该电路的输出函数也是AB．由此可以看出 该故障s-a -1对电路功能并没有产生影