武汉理工高分子材料测试方法.docVIP

主要的材料测试方法 1 Ｘ射线衍射(X-Ray Diffraction) Ｘ射线衍射是一种常用的十分有效的测定晶格常数等晶体结构参数的检测手段。具有 非破坏性、制样简单、测量精度高等优点。在一次测量中就能定性地得到组分的均匀性、 组分梯度、外延层厚度等一些结果。 基本原理：当Ｘ射线入射到晶体中，如果满足布拉格定律： 2dsinq=nl，则X射线强度因衍射而得到加强。当入射波长一定时，通过测定衍射角q即可确定晶面间距 d值。 通常人们用得较为普遍的是Ｘ射线双晶衍射，它是研究衬底与薄膜晶格失配、评价单 晶质量的重要手段。它具有高精度和很高的分辨率，通过测定其摇摆曲线的峰位和强度， 来评价样品的好坏。当晶体是高度完整的时候，这个峰的半宽度约为５～１０秒(弧度)。 应用：1定性相分析(例：鉴别同素异形体)；2定量相分析(确定各相物质的相对含量) 2 扫描电子显微镜(SEM) 扫描电镜是利用扫描电子束从样品表面激发出各种物理信号来调制成像的。新式扫描 电子显微镜的二次电子像的分辨达到nm级，放大倍数可从数倍原位放大到20万倍左右。目前的扫描电子显微镜不只是分析形貌，它可以和其它分析仪器相结合，使我们能在同一台 仪器上进行形貌、微区成分和晶体结构等多种分析。其突出的优点是景深非常大，放大倍 数范围很宽，能将试样表面起伏的立体貌相精确地复制出