2020统编语文四年级下册：7纳米技术就在我们身边 (1).pptVIP

Structure of Sodium Chloride Images of NaCl obtained using Scanning Tunneling Microscope ⅱ.原子力显微镜（atomic force microscope 简称 AFM) ： 利用针尖与样品表面原子间的微弱作用力来作为反馈信号，维持针尖——样品间作用力恒定，同时针尖在样品表面扫描，从而得知样品表面的高低起伏。原子间作用力的检测主要由光杠杆技术来实现。如果探针和样品间有力的作用，悬臂将会弯曲。为检测悬臂的微小弯曲量（位移），采用激光照射悬臂的尖端，四象限探测器就可检测出悬臂的偏转。 通过电子学反馈系统使弯曲量保持一定，即控制扫描管Z 轴使作用于针尖——样品间的力保持一定。在扫描的同时，通过记录反馈信号就可以得到样品表面的形貌。 德国JPK Instruments 公司生产的原子力显微镜 原子力显微镜“分选”和“搬运”分子 原子力顯微鏡 (Atomic Force Microscope) 結構示意圖 Contact Mode AFM TappingModeTM AFM MFM : EFM : AFM的應用 每種材料功函數(Work function)不同, 利用此特性量測某(複合)材料表面不同組成的區塊, 通常會先以AFM掃過一遍, 以扣除凡得瓦爾力作用的影響