劳厄斑的获取与分析.docVIP

0530040期末书面报告:劳厄斑的获取与分析 1 - 劳厄斑的获取与分析 作者：郑云飞 指导老师：俞熹 关键词：X光 劳厄斑 晶体结构分析 底片冲洗 摘要： 这篇论文主要介绍了利用莱宝X光实验仪实现劳厄斑的获取与分析。首先介绍了背景知识，给出了用于结果分析的计算公式，然后介绍了实验操作与结果分析。 实验原理： 晶体点阵是规则排列的面心立方体结构，X射线照射晶体时将在各格点产生散射。对于相邻格点的散射，当入射X光与散射X光的光程差为波长的整数倍时将产生X光的相强干涉。劳厄斑就是规则的三维晶体对X光的散射的综合反映，可以通过各斑位置坐标的计算确定各反射晶面。 当将布拉格公式扩展到三维空间时形式变得比较复杂，包括在三个坐标轴方向晶面上的方程（劳厄条件）： （式中，，为入射光与三个晶格坐标方向的夹角，，，为出射光与三个晶格坐标方向的夹角，a0为晶格常数，h, k, l为整数） 可做改进使之更清晰。引入单位矢量，表征入射与出射X光的方向，即，, 以及, 则劳厄条件可以简单地表示为： 由此易得 = （Ⅰ）, 即为晶面间隔为 （Ⅱ）的布拉格公式。 由于、均为单位矢量，这个式子表示垂直于、的角平分线，而晶面平行于、的角平分线，则即为产生这个劳厄斑的反射晶面的晶面指数。 劳厄斑的计算：查阅资料知，实验室提供的晶体为沿晶面切割，记为平面，则光路图如下示： 图中红点处为通过某一晶面得到的劳厄斑之一，图中OP即为根据上面对的讨论做出的（），P点的坐标记为,，均可由劳厄斑的图像测量得到。而由图中的几何关系，易有： ，及 解得：(Ⅲ) ，（Ⅳ） 由于OP//，故有（Ⅴ） X射线经晶体的散射波由经的散射波和经的散射波相干叠加而成，经分析，只有当?h, k, l全为奇数或者全为偶数时总强度才不为0，由此，结合式子（Ⅴ）即可确定 实验步骤： （ 实验条件： 温度18℃，湿度56% 拆下X光仪中原有的样品架，圆盘，探头支架，探头，GM记数管等。 将单晶片用双面胶带粘在针空光阑上，使之完全覆盖小孔 在像屏上安装底片（白面中心对准X光出射口），将样品架安装进X光仪中，调节底片与出射小孔距离为3cm。 关闭保护窗，设置高压U=35Kv，管电流I=1.00mA 按下HV键打开高压，使底片接受X光照射4小时。 关闭高压，打开保护窗取出底片，将显影液、定影液原液分别与水以1：3配比配制显影液和定影液。在暗室中先用显影液浸泡10分钟，之后可以看到在中央有对比比较明显的白色圆斑，转移至定影液中浸泡10分钟取出，（以上浸泡过程中不时用镊子翻转底片），得到以下图样： 复原仪器，处理数据。 实验结果分析： 将冲洗好的底片拍照，打印，同比例计算各点坐标如下表示，根据对称性可将点分为以下几类： Xp测量 Yp测量 Xp Yp Zp h k l d θ λ 0 8.3 0 2.6861 1.0268 0 6 2 44.746 20.924 31.955 7.8 0 2.5243 0 0.9207 6 0 2 44.746 20.043 30.666 0 -8.5 0 -2.751 1.0703 0 -6 2 44.746 21.263 32.449 -9.2 0 -2.977 0 1.2267 -6 0 2 44.746 22.396 34.091 6.2 6 2.0065 1.9417 1.0983 4 4 2 47.167 21.477 34.531 6.1 -6.2 1.9741 -2.006 1.1138 4 -4 2 47.167 21.592 34.708 -6.9 -7 -2.233 -2.265 1.3724 -4 -4 2 47.167 23.343 37.371 -6.6 6.7 -2.136 2.1683 1.2736 -4 4 2 47.167 22.711 36.414 3.7 3.7 1.1974 1.1974 0.4449 6 6 2 32.462 14.724 16.499 3.8 -3.9 1.2298 -1.262 0.4793 6 -6 2 32.462 15.218 17.039 -4.3 -4.5 -1.392 -1.456 0.6135 -6 -6 2 32.462 16.942 18.916 -4 4.1 -1.294 1.3269 0.5265 -6 6 2 32.462 15.859 17.739 2.4 7.2 0.7767 2.3301 0.8772 2 6 2 42.664 19.658 28.699 7 2.2 2.2654 0.712 0.8261 6 2 2 42.664 19.185 28.035 7 -2.5 2.2654 -0.809 0.8453 6 -2 2 42.664 19.366 28.2