电子行业标准 SJT 11704-2017 微电子封装的数字信号传输特性测试方法.pdfVIP

ICS 31.200. L55 备案号： SJ 中 华 人 民 共 和 国 电 子 行 业 标 准 SJ/T 201 ××××— × 微电子封装的数字信号传输特性测试方法 Digitalsignaltransmissiontestmethodformicroelectronicpackages （报批稿） XXXX-XX-XX发布 XXXX-XX-XX实施 中华人民共和国工业和信息产业部 发布 SJ/T ××××-201× 前 言 本标准按照GB/T1.1-2009给出的规则起草。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利，本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。 本标准由全国集成电路标准化分技术委员会（SAC/TC78/SC2）归口。 本标准主要起草单位：中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、清华大学、 中国电子科技集团公司第五十八研究所。 本标准主要起草人：王琪、张崤君、贾松良、丁荣峥。 本标准为首次发布。 I SJ/T ××××-201× 微电子封装的数字信号传输特性测试方法 1 范围 本标准规定了高频数字微电子封装中传输线的特性阻抗、传输延迟时间、负载电容、负载电感、直流 串联电阻的测试方法。 本标准适用于高频数字微电子封装。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。 凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GJB548微电子器件试验方法和程序 3 术语和定义及符号 下列术语、定义及符号适用于本文件。 3.1 术语和定义 3.1.1 特性阻抗 characteristicimpedance 某一段传输线由于其电阻和电感对电容的比值所呈现的阻抗。 3.1.2 传输延迟时间 transmissiondelay time 具有一定驱动阻抗的驱动器产生的脉冲在某一段传输线上产生的延时。 3.2 符号 R：电阻； L：电感； C：电容； t ：传输延迟时间； pd Z：特性阻抗； O l：引线长度。 4 一般要求 4.1 测试环境 除另有规定外，测试环境（温度、气压等）应符合GJB548的相关规定。 4.2 测试设备 1 SJ/T ××××-201× 测量和试验设备应满足测量和试验的使用要求。仪器设备的基本要求规定如下： a) 时域反射计:对于测试所使用的时域反射计（TDR），其用于产生反射的系统上升时间应至少是不 大于待测封装电路上升时间的1/5，最好是不大于1/10。互连线和固定装置应按此要求设计，使这 一比值不会因为测试装置的反射和振铃而衰减。 b) 直流电阻测试设备: 直流电阻测试设备和探针固定装置应具有测试封装引线电阻和芯片到封装互 连介质电阻的能力，在包含探针机械接触电阻