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原子力显微镜Atomic Force Microscope (AFM);透射电镜成像偏差原因;透射电镜的不足;SEM的缺陷;STM的优点;STM的缺陷;;AFM发展概况 ;原子力显微镜（AFM）;AFM的优点 ;;AFM的组成;;AFM成像原理 ;检测微悬臂弯曲的方法：1－隧道电流法；2－电容检测法；3－光学检测法（干涉法和光束反射法） 选择检测方法的原则：检测方法本身对悬臂产生的作用力应该小到可以忽略的程度。;光学检测法 ;AFM中的作用力 ; 为了准确反应出针尖相对于样品表面微弱的力的变化，Cantilever和针尖的制备是十分关键的，是决定AFM灵敏度的核心，因此AFM仪器的发展过程实际上是Cantilever的不断改进的过程。 Cantilever通常要满足以下条件：（1）较低的力的弹性系数；（2）高的力学共振频率；（3）高的横向刚性；（4）尽可能短的悬臂长度；（5）Cantilever需要配有镜面或者电极，使得能通过光学或者隧道电流方法检测其动态位移；（6）带有一个尽可能尖锐的针尖。;原子级的高分辨率； 宽松的测试条件； 可以得到力学等众多信息。;AFM的应用;云母表面结构AFM成像;AFM像中，A和B位置是近乎等同的;薄膜的AFM成像;硅原子的阶梯图案，利用标准的硅单原子的台阶分布（高度为0.31nm）进行1埃~1纳米范围内的AFM高度