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IPC-TM-650 测试方法规范 编号： 2.4.1 主题： 胶带测试镀层附着力 制定日期：1997 年 8 月 修订版本： D 原创工作组：刚性板测试方法任务组（7-11d） 1.0 范围 本方法使用压敏胶带测定镀层、标记油墨或油漆以及与连接印制板有关的其 它材料的附着质量。 2.0 适用文件 商业产品规格型号（CID）A-A-113 压敏胶带 3.0 试样 试生产、检验或生产中印制板，每次鉴定应至少进行三次测试。 4.0 器具或材料 4.1 胶带 一卷 3M 600 型宽 1/2 英寸压敏胶带，或者是除了胶带为透明外，符合（CID） A-A-113 规定的 1 型 B 级压敏胶带要求的其他胶带。 5.0 操作程序 5.1 测试 将一块至少长 50 mm（2.0 英寸）的压敏胶带紧紧贴在测试区域的表面上， 排除压敏胶带下的空气。压贴胶带和揭撕胶带之间的时间应少于 1 分钟。与测试 区域大致呈垂直（直角），迅速施加拉力，撕起胶带。每次测试均应使用未使用 过的胶带。 5.2 鉴定 目视检查胶带和测试区域，是否有任何部分被撕掉的痕迹。 5.3 报告 报告应说明测试中是否有材料被撕掉的痕迹。 第 1 页 共 31 页 6.0 注 6.1 如果镀层突沿断裂（碎屑）并附着在胶带上，这只是突沿断裂的痕迹，而不 能证明附着力不合格。 6.2 如果测试表面有杂质（油、脂等），则可能影响测试结果。 注：本测试方法规范中所适用的材料是 IPC 技术委员会自行而定的，只是建 议性的，使用与否或适用与否完全自定。IPC 对于这种材料的使用、应用或适用 概不负责。使用人还应完全负责保护自己，避免因侵犯专利权而遭受索赔或承担 责任。本测试方法规范中所提到的设备，仅供使用人参考，并不意味着是 IPC 所 指定的设备。 编号： 2.4.3.2 主题： 挠性敷金属介质的弯曲疲劳和延展性测定 制定日期：1991 年 3 月 修订版本： C 原创工作组：不适用 1 范围 本测试方法用于测定敷金属层在给定弯曲半径条件下的弯曲疲劳寿命、弯曲 疲劳特性和拉伸断裂后的延展变形百分数。 注：当铜箔试样的几何形状和尺寸使得拉伸和断裂测试不适合延展度测定 时，可以使用疲劳测试的方法间接测定铜箔的延展度。 注：测试处理可能改变金属导线原有的机械特性。 2 适用文件 IPC-TM-650 测试方法 2.1.1 显微切片 IPC-TM-650 测试方法 2.4.18 铜箔的抗拉强度和延伸率 IPC-D-330 IPC 设计指南 3 试样 使用足够尺寸的铜箔/介质层压板，切割三块试样，宽 3.2 mm、长至少 50.8 第 2 页 共 31 页 mm。切割应整齐，没有毛刺和缺口。 4 设备/器具 4.1 Universal 制造公司生产的 FDF 或 2FDF 型延展挠曲测试仪或等同设备（参见 6.4 和图 1）。 图 1 疲劳延展弯曲测试仪 （原图见原文第 5-181 页 -- 译者） 4.2 试样切割刀、冲压机或拉伸切割刻纹机。参见 6.4.2。 4.3 测微计，测量精度至 0.0025 mm。 4.4 惠普公司生产的 HP-67 型可编程序计算器或等同产品。 4.5 试样架，203.2 x 12.7 mm，用挠性材料，例如环氧树脂-玻璃漆布、纸等制做。 4.6 显微镜，放大倍率 200X。 5 操作程序 5.1 制备试样 5.1.1 样品应平滑，没有变形（无皱褶）。 5.1.2 切割宽为 3.2 mm 的试样，检查试样有无缺口、切痕或卷边。有缺陷的试样 一律不予使用。 5.1.3 使用测微计测量试样中心的厚度 t，精确至 0.0025 mm。如果试样为单面板， 则还必须测定芯层厚度 tM(参见图 2)。 Conductor 导线 Substrate 基材 图 2 芯层厚度图 （原图见原文第 5-182 页 -- 译者） 注：厚度是测定疲劳延展性的关键参数，10%的芯层厚度 tM 误差，就会导致 14%的疲劳延展度 D f 误差。 注：图 2 中的第 2 个结构中，芯层厚度 tM 最好使用按照 PC-TM-650 测试方 第 3 页 共 31 页 法 2.1.1 中规定的程序制备的显微切片，在金相显微镜以至少 200X 的放大倍率 下用适合的细丝目镜或带标度线目镜测定，作为试样厚度的分数。如果铜箔一面 是粗糙表面，按由谷底至光滑表面进行测量；如果铜箔两面均是粗糙表面，则按 谷底至谷底进行测量。芯层厚度 tM 应每批铜箔测量一次或按批测量，然后再将 这一分数值 tM/t 乘以使用测微计测得的其它试样厚度值 t，即可求得供所有样品 使用的芯层厚度。 5.1.4 将需测试导线连接起来，接成串联进行监控，在导线的 2 个自由端接上中 继细导线。 5.1.5 用胶带将试样固定在 2 个试样