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实验 利用线阵CCD进行物体外形尺寸的测量 1. 实验目的 通过本实验掌握利用线阵CCD进行非接触测量物体尺寸的基本原理和方法，用实例探讨影响测量范围、测量精度的主要因素，为今后设计提供重要依据。 2. 实验准备内容 （1）利用线阵CCD进行非接触测量物体尺寸的基本原理 线阵CCD的输出信号包含了CCD各个像元所接收光强度的分布和像元位置的信息，使它在物体尺寸和位置检测中显示出十分重要的应用价值。 CCD输出信号的二值化处理常用于物体外形尺寸、物体位置、物体震动（振动）等的测量。如图2.3-1所示为测量物体外形尺寸（例如棒材的直径D）的原理图。将被测物体A置于成像物镜的物方视场中，将线阵CCD像敏面恰好安装在成像物镜的最佳像面位置上。 当被均匀照明的被测物体A通过成像物镜成像到CCD的像敏面上时，被测物体成像出的黑白分明的光强分布使得相应像敏单元上存储载荷了被测物尺寸信息的电荷包，通过CCD及其驱动器将载有尺寸信息的电荷包转换为如图2.3-1右侧所示的时序电压信号（输出波形）。根据输出波形，可以测得物体A 在像方的尺寸，再根据成像物镜的物像关系，找出光学成像系统的放大倍率β，便可以用下面公式计算出物体A的实际尺寸D （2.3-1） 显然，只要求出，就不难测出物体A的实际尺寸D。 图2.3-1物体尺寸测量系统的光学系统 线阵CCD的输出信号UO随光强的变化关系为线形的，因此，可用UO模拟光强分布。采用二值化处理方法将物体边界信息（图2.3-1中的N1与N2）检测出来是简单快捷的方法。有了物体边界信息便可以进行上述测量工作。 图2.3-1物体尺寸测量系统的光学系统 （2）二值化处理方法 图2.3-2所示为典型CCD输出信号与二值化处理的时序图。图中FC信号为行同步脉冲，FC的上升沿对应于CCD的第一个有效像元输出信号，其下降沿为整个输出周期的结束。U0为经过反相放大后的输出电压信号。为了提取图2.3-2所示U0信号所表征的边缘信息，采用如图2.3-3所示的固定阈值二值化处理电路。该电路中，电压比较器LM393的正输入端接CCD的输出信号U0，而反相输入端接到电位器的动端，产生可调的阈值电平，可以通过调节电位器对阈值电平进行设置，构成固定阈值二值化电路。经固定阈值二值化电路输出的信号波形被定义为TH，它为方波脉冲。 再进行逻辑处理，便可以提取出物体边缘的位置信息N1和N2。N1与N2的差值即为被测物体在CCD像敏面上所成图像占据的像元数目。物体A在像方的尺寸为 （2.3-2） 式中，N1与N2为边界位置的像元序号，L0为CCD像敏单元的尺寸。因此，物体的外径D应为 （2.3-3） 3. 实验所需仪器设备 MXY9002 光电成像基础与应用实训平台一台； 计算机一台 4. 实验内容及步骤 （1）实验内容 建立非接触测量物体外形尺寸的基本结构； 观测二值化处理过程中CCD的输出信号； 在进行二值化阈值电平调整的过程中，观察阈值电平调整对测量值的影响； 进行光学系统放大倍率的标定； 进行非接触测量物体的外形尺寸； 改变有关参数，观察对测量值的影响，分析影响物体尺寸测量的主要因素。 （2）实验步骤 1) 实验准备 a 将尺寸测量棒安装在底座上，使测量棒与底座尽量垂直，然后将底座用支撑杆安装在导轨滑块上； b 如图2.3-4所示搭建线阵CCD成像系统，成像系统由白色平行光源、尺寸测量装置、线阵CCD相机组成，将平行光源的黄线插入平台12V电源插孔，黑线插入平台GND，用数据线将线阵相机与平台LCCD调试及测试组件中的DB15接口连接。 c 打开光电平台电源和计算机电源，打开物体尺寸测量软件，将在屏幕上弹出如图2.3-5所示的物体外形尺寸测量实验软件界面； “保存” 按钮的功能为将所测量的数据保存到指定文件夹。实验时点击“连续”按钮，仪器便执行连续采集线阵CCD的输出信号；参数设置按钮中的CCD参数设置的功能是对CCD的 “积分时间”和“驱动频率”进行设定，积分时间为16档可调，驱动频率为4档可调。 图2.3-4 图2.3-5 2) 光学成像系统放大倍率β的标定 a将直径为5mm的“尺寸测量棒”拧入底座，使测量棒与底座尽量垂直 b在“尺寸测量”软件界面上点击“连续”按钮，计算机显示器出现含有测试件外径尺寸信息的波形，调整物距、像距和成像物镜的光圈和焦距，使软件能够观测到比较陡直的输出信号波形，如图2.3-6所示。 c在测量界面上设置驱动频率、积分时间，使输出信号的幅度达到适宜观测的程度，但是，一定不要使CCD工作到饱和状态； d调整光学成像系统的焦距与光圈，注意观察输出信号波形，使