PAUT 技术检测方案.docVIP

PAUT 技术检测方案 一，设备简介 PAUT系统可实现环焊缝和纵焊缝的检测，能够同时实现A扫描、TOFD灰度图像B扫描和相控阵S扫描成像。使用PA检测方法弥补了TOFD检测时产生的上下表面盲区的不足，直观的反应出表面及内部的埋藏缺陷的形态。 相控阵检测的优势： 1. 成像直观 2. 检测效率高 3. 可以存储检测记录 4. 可检测大壁厚零件覆盖上下表面盲区 C扫描成像，并可快速知道缺陷步进方向的位置 检测除焊缝以外的其他复杂形状零件，对气孔类缺陷检出率较高，同时对焊帽里面的缺陷也可以检出 该系统实现TOFD和PA相结合的扫查检测，该系统能够实现A/B/C/S扫查图像，检测可以实时保存，便于后续查验审核。 二，检测设备 检测的设备： 奥林巴斯的相控阵探伤仪OmniScan MX2 扫查器：IT-SCS05小径管扫查器 探头 奥林巴斯5Mhz16晶片相控阵探头 一对 奥林巴斯10Mhz6mm探头直径TOFD探头 一对 检测的原理： 通过扫查器的连接，使TOFD探头和PA探头位于焊缝的两侧，如图： TOFD和相控阵探头距离需要根据公式的计算和模拟软件的模拟，使角度声速覆盖整个焊缝。 检测的界面数据为TOFD和PA图像： 三，人员资质要求 所有进行数据评判和分析人员，应具有超声波二级资质。 四，管件表面要求 被检表面应无油污，灰尘，疏松氧化皮，焊接