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- 2020-06-27 发布于天津
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2019/12/26 扫描电镜 SEM (Scanning Electron Microscope) 2019/12/26 1.SEM 的发展历程 2.SEM 的结构与工作原理 3.SEM 的特点 5.SEM 的应用 4.SEM 的样品制备 目录: 2019/12/26 一、 SEM 的发展历程( 1 ) ? 1924 年,法国科学家 De.Broglie 证明任何粒子在高速运动时都会 发射一定波长的电磁辐射。 ? 1926 年,德国科学家 Garbor 和 Busch 发现用铁壳封闭的铜线圈对 电子流能折射聚焦,即可以作为电子束的透镜。 ? 1935 年, Knoll 提出了扫描电镜的设计思想并制成了扫描电镜的 原始模型。 ? 1942 年,剑桥大学的马伦成功地制造世界第一台扫描电镜。 2019/12/26 ? 1960 年, Everhart 和 Thornley 发明二次电子侦测器。 ? 1965 年,第一部商用 SEM 出现( Cambridge )。 ? 1958 年,在长春中国科学院光学精密机械研究所生产了第一台 中型电镜。 ? 1975 年,中国科学院北京科学仪器厂成功试制了第一台 DX-3 型 扫描电镜,分辨率为 10nm ,填补了我国扫描电镜的空白。 SEM 的发展历程(
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