电容检验标准.docx

电容检验标准 文件名称 电容检验标准 生效日期 页码 1 of 2 使用状态 文件编号 版本 A / 0 审核 拟定 目 的 确保本公司电子兀器件---电容品质符合客户要求。 范 围 适应于电子兀器件---电容进料入库检验。 抽样标准 MIL-STD-105E 单次 H 级正常检验； CR=0 ; MA=1.0 ; Ml=2.5。 检验环境 在正常光源条件下，距离 30cm远检验，以及适宜的角度检验产品。 参照标准 1、GB / T2828.1-2003逐批检查计数抽样及抽样表。 序 号 检验 项目 接收标准 检验 方法及 工具 缺陷描述 缺陷等级 致命 (CR) 严重 (MA ) 轻微 (MI) 1 包装 包装必须有标识，外标识与实物 一致。 目视 外标识与实物不一致。 V 包装箱不能有破损、脏污现象。 包装箱有破损、脏污现象。 V 同一个规格型号不能有混料现 象。 同一个规格型号混有其它 规格型号。 V 2 外观 主体规格，极性丝印清晰可辨认。 目视 无法辨认。 V 引脚不能有弯曲成螺旋状、折痕 现象。 引脚有弯曲成螺旋状、折痕 现象。 V 引脚无断裂现象。 引脚有断裂现象。 V 主体划伤、碰痕现象。 主体有划伤、碰痕现象。 V 引脚不能有脱落现象。 引脚有松动、脱落现象。 V 主体不能有封装不良，表面不平现象。 主体有封装不良、表面不平。 V 引脚无发黑氧化、吃锡良好。 弓1脚有氧化、吃锡不良。 V 电容本体不能有破裂，表面涂覆 层脱落、露芯现象。 电容本体破裂，表面涂覆层 脱落、露芯现象。 V 3 结构 主体直径、长度、脚径符合设计要求。 电容脚长、脚径尺寸正确。 卡尺 试装 主体直径、长度、脚径不符 合设计要求。 V 与PCB试装符合要求。 不符合要求。 V 4 可焊性 炉温在250-270 C状态下，浸锡时 间：1.5?3S,观察引脚吃锡率〉 95% 以上。 浸锡 试验 经浸锡试验后，吃锡不良（吃 锡率小于95% ）。 V  电容检验标准 文件名称 电容检验标准 文件编号 页码 2 of 2 版本 A / 0 序 号 检验 项目 接收标准 检验工 具及 方法 缺陷描述 缺陷等级 致命 (CR) 严重 (MA ) 轻微 (Ml) 5 电气 特性 电容量：在1KHZ条件下测试， 容量在规定偏差范围内。 LCR电 桥测试 仪 不符合要求。 V 损耗角正切值：在 1KHZ条件下 测试损耗角正切值符合设计要求。 不符合要求。 V 耐压：电容器在室温下承受施加 于引脚间的，其值为2UR（额定电压）， 时间：60S的直流电压，漏电流设定 1mA，无击穿现象。 耐压测 试仪 有击穿现象。 V 6 高温储 存试验 将未通电的电容器放置于烘箱， 在100 C 土 5 C状态下恒温烘烤 96小 时，恢复16小时，测试： 1） 损耗角正切值不大于原规定值 2 倍； 2） 容量变化不超过20% 电烤箱 LCR电 桥测试 仪 漏电流 测试仪 不符合要求。 V 7 耐久性 将未通电的电容器放置于烘箱， 在100C± 5C状态下恒温烘烤 1000 小时，满足： 1） 损耗角正切值不大于原规定值 2 倍； 2） 容量变化不超过30% 不符合要求。 V 8 密封和 加热试 验 将未通电的电容器放置于烘箱 （需分散），在85 C状态下恒温烘烤1 小时，观察试验期间，电容不得出现 浸渍剂或填充料泄漏现象，电容器也 不得成为开路，试验后重新测试电容 器的容量、损耗角正切值符合原规定 要求。 不符合要求。 V 1、 本检验标准未尽项目，需检验时可参照行业标准、国标或工程技术文件要求。当检验标准的检验 备 注 项目在技术要求中未作规定时，可不作检验要求。 2、 高温储存试验、耐久性、密封和加热试验，按 5批次作一次抽取实验（数量： 3-5pcs）。