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ICS 31.060.20
L 11
SJ
中 华 人 民 共 和 国 电 子 行 业 标 准
SJ/T 10568—XXXX
代替 SJ/T10568-1994
电子元器件详细规范
CT2型瓷介固定电容器
评定水平EZ
Detailspecificationforelectroniccomponents
FixedcapacitorofCT2ceramicdielectric
AssessmentlevelEZ
中华人民共和国工业和信息化部 发 布
前 言
本规范按照GB/T1.1—2009给予出的规则起草。
本规范是根据GB/T5969—2012/IEC60384-9-1:2005《电子设备用固定电容器 第9-1部分:空白详
细规范 2类瓷介固定电容器 评定水平 EZ》起草的产品详细规范。
本规范代替SJ/T10568—1994《电子元器件详细规范 CT2型瓷介固定电容器 评定水平E》。
本规范与SJ/T10568—1994相比,主要变化如下:
—— 依据GB/T5969—2012,评定水平由E改为EZ;
—— 在表1和表1A中增扩电容量范围和2X1、2F4电容量温度特性;
—— 明确可焊性试验的判定要求;
—— 电容量温度特性由D改为ND;
—— 引出端强度试验条件由外观检查改为按4.5外观检查;
—— 耐焊接热试验条件由方法1B改为1A;
—— 振动试验加速度由98m/s 改为100m/s;2 2
—— 碰撞试验加速度由390m/s 改为400m/s;2 2
—— 低气压试验中大气压力由8.5kPa改为8kPa;
——SJ 2391—1983;
——SJ/T10568—1994。
I
SJ/T10568—XXXX
电子元器件详细规范
CT2型2类瓷介固定电容器
评定水平 EZ
中华人民共和国工业和信息化部 SJ/T10568—××××
电子元器件质量评定水平按
GB/T 5969—2012
GB/T 2693—2001
IEC 60384-9-1:2005
IEC 60384-1:1999
外形图:(尺寸见表1) CT2型瓷介固定电容器
L
Dmax
该电容器采用高频陶瓷(2类瓷)作介质,
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