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纳米材料形貌分析—SEM分析
材料的形貌尤其是纳米材料的形貌也是材料分析
的重要组成部分,材料的很多重要物理化学性能是
由其形貌特征所决定的。对于纳米材料,其性能不
仅与材料颗粒大小还与材料的形貌有重要关系。如
颗粒状纳米材料与纳米线和纳米管的物理化学性能
有很大的差异。因此,纳米材料的形貌分析是纳米
材料的重要研究内容
形貌分析的主要内容是分析材料的几何形貌,材
料的颗粒度,及颗粒度的分布以及形貌微区的成份
和物相结构等方面;纳米材料常用的形貌分析方法
主要有:扫描电子显微镜、透射电子显微镜、扫描
隧道显微镜和原子力显微镜。
和光学显微镜及透射电镜相比,扫描电镜SEM( Scanning
Electron Microscope)具有以下特点
()能够直接观察样品表面的结构,样品的尺寸可大至
120mm×80mm×50mm。
度空间的平移和旋转,因此,可
四)景深大,图象富有立体感。扫描电镜的景深较光学显
(五)图象的放大范围广,分辨率也比较高。可放大十几倍到几
十万倍,它基本上包括了从放大镜、光学显微镜直到透射电镜
的放大范围。分辨率介于光学显微镜与透射电镜之间,可达
Bnm
(六)电子束对样品的损伤与污染程度较小。
(七)在观察形貌的同时,还可利用从样品发出的其他信号作微
区成分分析
是通过
照的不
同放大倍数的照片,图
象的放大范围广,分辨
率也比较高,可放大十
几倍到几十万倍。
能谱分析(成分分析)
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