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光电检测方法 2.1 直接探测 2.1.1 基本物理过程 直接探测是将待检测的光信号直接入射到光探测器的光敏 面上， 由光探测器将光信号直接转化为电流或电压， 根据不同的 要求，再经后续电路处理，最后获得有用的信号。 一般，光探测器前可采用光学天线，在其前端还可经过频 率滤波和空间滤波处理。 这是为了进一步提高探测效率和减小杂 散的背景光。 信号光场可表示为 E S (t ) A cos t ，式中， A 是信号光电场振 幅， 是信号光的频率。则其平均功率 P 为 （2.1.1 ） 光探测器输出的光电流为 （2.1.2 ） R 若光探测器的负载电阻为 L ,则光探测器输出的电功率为 （2.1.3 ） 光探测器输出的电功率正比于入射光功率的平方。从而可 知，光探测器对光的响应特性包含两层含意， 其一是光电流正比 于光场振幅的平方， 即光的强度； 其二是电输出功率正比于入射 光功率的平方。如果入射信号光为强度调制（ TM ）光，调制信 号为 d (t ) 。从而得 （2.1.4 ） 式中第一项为直流项， 若光探测器输出有隔直流电容， 则输 出光电流只包含第二项， 这就是直接探测的基本物理过程， 需强 调指出，探测器响应的是光场的包络，目前，尚无能直接响应光 场频率的探测器。 2.1.2 信噪比 P P 设入射到光探测器的信号光功率为 S ,噪声功率为 n ，光探测 器输出的信号电功率为 SP ，输出的噪声功率为 N P 。可得 （2.1.5 ） 根据噪声比的定义，则输出功率信噪比为 （2.1.6 ） 从上式可以看出 I. 若 ，则有 （2.1.7 ） 输出信噪比等于输入信噪比的平方。 由此可见， 直接探测系统不 适于输入信号比小于 1 或者微弱光信号的探测。 II. 若 ，则 （2.1.8 ） 输出信噪比等于输入信噪比的一半，即经光—电转换后信 噪比损失了 3dB ，在实际应用中还是可以接受的。 由此可见，直接探测方法不能改善输入信噪比。 如果考虑直接探测系统存在的所以噪声，则输出噪声总功 率为 （2.1.9 ） 2 2 2 i i i 式中， N S N B N D 分别为信号光，背景光和暗电流引起的 2 i 散粒噪声。 N T 为负载电阻的热噪声。 （2.1.10 ） 当直接探测系统主要为信号光引起的散粒噪声限制 （即量子噪声 限）时 （2.1.11 ） 这就是理想的直接探测系统所能达到的最大信噪比极限。 2.1.3 噪声等效功率