2019-分享教案-13衍射强度.pdf

§3.1 多晶体衍射图像的形成 本章主要介绍多晶体衍射强度。为使讲述较为形象具体，我们先从多晶体的德拜－ 谢乐衍射花样的形成谈起。 德拜法采用一束特征X 射线垂直照射多晶体试样，并用圆筒窄条底片记录。通常， X 射线照射到的微晶体数可超过 10 亿个。在多晶体试样中，各微晶体的取向是无规则 的，某种晶面在空间的方位按等几率分布。当用波长为λ 的X 射线照射时，某微晶体中 面间距为d 的晶面 （暂称d 晶面）若要发生反射，必要的条件是它在空间相对于入射X 射 线成 θ 角放置，即满足布拉格方程。上述微晶体数在10 亿以上的无规晶体，必然是很 多不满足这一条件，对应的d 晶面便不能参与衍射；但也必然有相当一部分晶体满足这 一条件，其d 晶面便能参与衍射。 各微晶体中满足布拉格方程的d 晶面，在空间排列成一个圆锥面。该圆锥面以入射 线为轴，以 2θ 为顶角。反射线亦呈锥面分布，顶角为4θ （图3 －1）。各微晶中间距为d1 的晶面，将产生顶角为 4θ1 反射线反射线 的另一反射锥面。因晶体中 存在一系列 d 值不同的晶 θθ 面，故对应也出现一系列 θ θθ 值不同的反射圆锥面。当4θ 入射线入射线 dd晶面晶面 ＝180º时，圆锥面将演变成 θθ 一个与入射线相垂直的平 面；当4θ180º 时，将形成 一个与入射线方向相反的 反射线反射线 背反射圆锥。 图3 －1 d 晶面及其反射线的平面分布 可见，当单色X 射线照射多晶试样时，衍射线将分布在一组以入射线为轴的圆锥 面上。在垂直于入射线的平底片上所记录到的衍射花样将为一组同心圆。此种底片仅可 记录部分衍射圆锥，故通常采用以试样为轴的圆筒窄条底片来记录。此种布置的示意图 可参阅图2 －11。图3 －2 为一张展开的德拜相示意图。 材料分析方法——材料X 射线衍射分析 1 图3 －2 德拜相示意图 同一张照片上的衍射线条，其强度是不一样的。衍射方向的理论只能说明衍射线 出现的位置，但衍射线的强度却有赖于衍射强度理论来解决。应该指出，在X 射线衍射 分析中，经常会涉及衍射强度问题。例如物相定量分析、固溶体有序度测定、内应力及 织构测定等都必须进行衍射强度的准确测定。 §3.2 单位晶胞对X 射线的散射与结构因数 简单点阵 （只由一种原子组成，每个晶胞只有一个原子，它分布在晶胞的顶角上）单位晶胞的散射强 度相当于一个原子的散射强度。复杂点阵晶胞中含有n 个相同或不同种类的原子，它们 除占据单胞的顶角外，还可能出现在体心、面心或其他位置。我们可以将复杂点阵看成 是由简单点阵平移穿插而得。复杂点阵单胞的散射波振幅应为单胞中各原子的散射波振 幅的矢量合成。由于衍射线的相互干涉，某些方向的强度将会加强，而某些方向的强度 将会减弱甚至消失，习惯上称为系统消光。研究单 kk kk 胞结构对衍射强度的影响，在衍射分析的理论和应 AA 用中都十分重要。